應用材料公司發(fā)布SEMVision G7

　　應用材料公司今日發(fā)布了其市場領先的SEMVision?系列缺陷檢測和分類技術最新產(chǎn)品，助力尖端存儲和邏輯芯片的制造商提升生產(chǎn)力。最新的SEMVision G7系統(tǒng)，是目前市面上唯一具有高分辨率缺陷成像，以及經(jīng)生產(chǎn)驗證、具有先進機器學習智能的DR-SEM*系統(tǒng)。它有助于芯片制造商更快對缺陷進行分類，找出根本原因并解決良率問題。

　　“由于將日趨復雜的新設計投入生產(chǎn)的難度越來越大，芯片制造商正在尋找加快產(chǎn)品面市和實現(xiàn)最優(yōu)良率的方法。”應用材料公司副總裁兼工藝診斷及控制事業(yè)部總經(jīng)理Ofer Greenberger表示，“SEMVision G7系統(tǒng)進一步拓展了成像能力，可以對關鍵缺陷進行檢測，包括在晶圓邊緣斜面和側面位置。這些地方的缺陷若未能及時發(fā)現(xiàn)，可能會導致芯片的良率下降。利用全新機器學習算法進行實時自動分類和缺陷分析，可以確保精準和一致的工藝控制，加速提升芯片制造商實現(xiàn)穩(wěn)定的生產(chǎn)工藝?！?/p>

　　除了獨特的晶圓邊緣斜面和側面位置的成像能力之外，SEMVision G7還改進了無圖案晶圓的光源和收集系統(tǒng)，實現(xiàn)了18納米缺陷的光學檢測。無圖案晶圓上的缺陷識別和表征，為芯片制造商提供了表面形貌和材料等信息，可以幫助確定缺陷的來源并用更快的時間進行糾正。

　　Purity? II技術，是業(yè)內(nèi)唯一經(jīng)全面生產(chǎn)驗證的Purity? ADC的技術。此項技術拓展了SEMVision G7系統(tǒng)的機器學習能力，使它能夠學習工藝變更情況，并在運行過程中調整自動統(tǒng)計分類引擎。全新的機器學習能力將工程設計數(shù)據(jù)與SEM圖像結合起來，能產(chǎn)生基于位置的缺陷分類，實現(xiàn)更準確的環(huán)境情況輸入，且加速根本原因的分析。全新的缺陷提取算法，能夠優(yōu)先分揀出在分類引擎中預定義的缺陷，確保至關重要的缺陷能夠先被突出與顯示出來。通過使用機器智能學習實現(xiàn)快速準確的自動缺陷檢測和根本原因分析，Purity II ADC能夠加快工藝提升并實現(xiàn)卓越的良率管理。