基于NI VirtualBench和LabVIEW的ADC自動(dòng)化測(cè)試
作者 張曜 孟天奕 陳尚存 合肥工業(yè)大學(xué)集成電路設(shè)計(jì)與集成系統(tǒng)專業(yè)(安徽合肥230601)
本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/201812/396106.htm摘要:伴隨著通信系統(tǒng)對(duì)高頻率、大帶寬以及多通信模式的需求,模數(shù)轉(zhuǎn)換器(Analog-to-DigitalConvertor,ADC)的設(shè)計(jì)正趨向于高速高精度發(fā)展,與此同時(shí)也給芯片測(cè)試帶來(lái)了更大的挑戰(zhàn)。本文基于NIVirtual Bench硬件平臺(tái),提出了一套自動(dòng)化測(cè)試方案,該測(cè)試方案采用碼密度直方圖法和FFT頻譜分析法實(shí)現(xiàn)ADC芯片的靜態(tài)參數(shù)和動(dòng)態(tài)參數(shù)的自動(dòng)化測(cè)試。
關(guān)鍵詞:ADC測(cè)試;Virtual Bench;LabVIEW;碼密度直方圖法;FFT頻譜分析法
*第二屆全國(guó)大學(xué)生集成電路創(chuàng)新創(chuàng)業(yè)大賽NI杯全國(guó)特等獎(jiǎng)張曜:合肥工業(yè)大學(xué)集成電路設(shè)計(jì)與集成系統(tǒng)專業(yè);孟天奕:合肥工業(yè)大學(xué)集成電路設(shè)計(jì)與集成系統(tǒng)專業(yè);通訊作者:陳尚存,合肥工業(yè)大學(xué)集成電路設(shè)計(jì)與集成系統(tǒng)專業(yè)。
0引言
模數(shù)轉(zhuǎn)換器是通信系統(tǒng)的重要組成部分,對(duì)通信系統(tǒng)的發(fā)展具有非常重要的意義。近年來(lái),通信系統(tǒng)對(duì)高速高精度ADC的要求越來(lái)越高。當(dāng)有效位數(shù)要求超過(guò)12位時(shí)即進(jìn)入了高精度ADC的范疇,傳統(tǒng)的測(cè)試方法已經(jīng)很難適應(yīng)要求。
National Instruments(NI)公司為芯片測(cè)試提供了完善的硬件和軟件平臺(tái),基于NI公司的產(chǎn)品可以極大地優(yōu)化測(cè)試步驟,便捷地得到可靠的測(cè)試結(jié)果。本文中,我們提出了一種運(yùn)用Virtual Bench進(jìn)行ADC參數(shù)測(cè)試的自動(dòng)化方法,不僅對(duì)ADC的靜態(tài)參數(shù)和動(dòng)態(tài)參數(shù)進(jìn)行了詳細(xì)地分析,而且實(shí)現(xiàn)了碼密度直方圖法和FFT頻譜分析法在LabVIEW編程語(yǔ)言中的具體運(yùn)用。相比于傳統(tǒng)的手動(dòng)測(cè)試,自動(dòng)化測(cè)試實(shí)現(xiàn)了從激勵(lì)產(chǎn)生輸入到響應(yīng)采集輸出,以及計(jì)算出相應(yīng)參數(shù)這一整個(gè)流程的全自動(dòng)化,極大地提高了測(cè)試速度和測(cè)試準(zhǔn)確度,為優(yōu)化ADC的測(cè)試提供了一種新的可能性。NIVB-8012是一款Virtual Bench多功能一體式儀器,它將具有協(xié)議分析功能的雙通道100MHz混合信號(hào)示波器、任意波形發(fā)生器、數(shù)字萬(wàn)用表、可編程直流電源和數(shù)字I/O結(jié)合到單個(gè)設(shè)備中,Virtual Bench還與Python、LabVIEW等緊密結(jié)合,支持編程控制和自動(dòng)化測(cè)試序列,從而可以輕松實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)試。
1ADC主要參數(shù)介紹
體現(xiàn)ADC性能的參數(shù)主要分為靜態(tài)參數(shù)和動(dòng)態(tài)參數(shù)。靜態(tài)參數(shù)體現(xiàn)了ADC電路在轉(zhuǎn)換時(shí)間內(nèi)輸入信號(hào)保持不變的情況下的工作性能。動(dòng)態(tài)參數(shù)體現(xiàn)了ADC電路在動(dòng)態(tài)環(huán)境下的性能,因此其測(cè)試要求輸入信號(hào)是時(shí)間的函數(shù)。所以與此對(duì)應(yīng)的分別是ADC時(shí)域下的靜態(tài)參數(shù)和頻域下的動(dòng)態(tài)參數(shù)。下面將對(duì)這兩種參數(shù)進(jìn)行說(shuō)明。
1.1靜態(tài)參數(shù)
靜態(tài)參數(shù)描述的是器件的內(nèi)在特性,和器件內(nèi)部電路的誤差相關(guān)。靜態(tài)參數(shù)反映ADC的靜態(tài)誤差,即轉(zhuǎn)換器量化直流信號(hào)時(shí)影響精度的誤差。主要的靜態(tài)參數(shù)有:微分非線性和積分非線性。
(1)微分非線性(DifferentialNon-Linearity,DNL):ADC實(shí)際相鄰數(shù)字碼對(duì)應(yīng)的模擬量差值與理想相鄰數(shù)字碼對(duì)應(yīng)的模擬量差值(即1LSB)之差。
(2)積分非線性(IntegralNon-Linearity,INL):ADC的數(shù)字輸出碼對(duì)應(yīng)的模擬值和實(shí)際的模擬輸入值之間的差值[1]。通常我們比較關(guān)注的是微分非線性和積分非線性中的最大值,通過(guò)將其與LSB比較來(lái)判斷ADC是否達(dá)到所需精度。
1.2動(dòng)態(tài)參數(shù)
ADC動(dòng)態(tài)參數(shù)反映了ADC在高速工作條件下的性能,可以通過(guò)對(duì)輸出頻譜圖進(jìn)行計(jì)算分析得出。常用的動(dòng)態(tài)性能參數(shù)有如下幾種:
(1)信號(hào)噪聲比(SignaltoNoiseRatio,SNR):簡(jiǎn)稱信噪比,指ADC輸出信號(hào)功率與量化噪聲和電路噪聲的總功率的比值。表達(dá)式如下:
(2)總諧波失真(TotalHarmonicDistortion,THD):輸入信號(hào)與系統(tǒng)所有諧波的總功率比。表達(dá)式如下:
(3)信號(hào)與噪聲失真比(SignaltoNoiseAndDistortion,SINAD):輸入信號(hào)和所有輸出信號(hào)失真功率(包括諧波成分,不包括直流)比。表達(dá)式如下:
(4)無(wú)雜散動(dòng)態(tài)范圍(Spurious-freeDynamicRange,SFDR):對(duì)系統(tǒng)失真進(jìn)行量化,它是基本頻率與雜波信號(hào)最大值的數(shù)量差。表達(dá)式如下:SFDR=6.02×N+1.76+10×log(OSR)其中N為有效位數(shù),OSR為過(guò)采樣率,計(jì)算公式為:OSR=fs/fB。
(5)有效位數(shù)(EffectiveNumberofBits,ENOB):在ADC器件信噪比基礎(chǔ)上計(jì)算出來(lái)的,它將傳輸信號(hào)質(zhì)量轉(zhuǎn)換為等效比特分辨率。表達(dá)式如下:ENOB=[SINAD(dB)-1.76dB]/6.02dB
2自動(dòng)化測(cè)試方案
本文提出的ADC芯片自動(dòng)化測(cè)試方案基于Virtual Bench系列中的VB-8012。對(duì)于Virtual Bench系列儀器,我們有兩種辦法實(shí)現(xiàn)其自動(dòng)化測(cè)試:
(1)基于LabVIEW的自動(dòng)化:構(gòu)建自定義應(yīng)用程序,以編程方式控制Virtual Bench,防止重復(fù)測(cè)量中出現(xiàn)人為失誤,并減少測(cè)試時(shí)間。
(2)基于Python的自動(dòng)化:使用Python為Virtual Bench的各種測(cè)量編寫腳本,以驗(yàn)證和測(cè)試電子設(shè)備。
NI LabVIEW是儀器自動(dòng)化行業(yè)最流行的系統(tǒng)設(shè)計(jì)軟件。使用圖形化開發(fā)環(huán)境,構(gòu)建自定義的應(yīng)用程序,通過(guò)編程控制NI Virtual Bench多功能一體化儀器,能夠減少重復(fù)測(cè)量中的人為錯(cuò)誤并節(jié)省測(cè)試所需時(shí)間。本文主要是運(yùn)用LabVIEW來(lái)實(shí)現(xiàn)測(cè)試自動(dòng)化。
實(shí)現(xiàn)測(cè)試的自動(dòng)化,主要依靠LabVIEW提供的設(shè)備驅(qū)動(dòng)程序和儀器應(yīng)用程序接口(API):設(shè)備驅(qū)動(dòng)程序與計(jì)算機(jī)操作系統(tǒng)相配合,可在計(jì)算機(jī)和Virtual Bench之間建立起通信機(jī)制;儀器API是一組易于理解的高層函數(shù),在LabVIEW中用于控制儀器并與儀器進(jìn)行通信[2]。
使用LabVIEW進(jìn)行編程,通過(guò)初始化、配置儀器、執(zhí)行操作、關(guān)閉設(shè)備和錯(cuò)誤處理等步驟,獲取VB-8012測(cè)得的數(shù)據(jù),并進(jìn)一步分析和處理測(cè)試數(shù)據(jù),從而計(jì)算得出ADC的性能參數(shù)。以上測(cè)試過(guò)程,僅需編寫好的LabVIEW程序進(jìn)行控制,實(shí)現(xiàn)了ADC的自動(dòng)化測(cè)試。整個(gè)自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的原理框圖如圖1。
2.1靜態(tài)參數(shù)測(cè)試
碼密度直方圖測(cè)試主要是基于數(shù)理統(tǒng)計(jì)理論,待測(cè)ADC對(duì)模擬輸入信號(hào)進(jìn)行隨機(jī)采樣,不同數(shù)字碼輸出的出現(xiàn)次數(shù)為碼密度。以ADC的輸出數(shù)字碼和相應(yīng)的出現(xiàn)次數(shù)為坐標(biāo)作圖,所得的圖形稱為直方圖。在直方圖上,每個(gè)數(shù)字碼稱為碼箱,每個(gè)數(shù)字碼出現(xiàn)的次數(shù)為碼箱寬度,即碼密度。根據(jù)相應(yīng)的碼箱寬度就可以估計(jì)出ADC的靜態(tài)參數(shù)[3]。
在選定測(cè)試信號(hào)時(shí)為了避免邊界值的影響,選擇輸入信號(hào)為略大于ADC量程的正弦信號(hào)。在輸入信號(hào)頻率選擇上必須滿足相干采樣原理,使得輸入信號(hào)的頻率與采樣頻率成互質(zhì)關(guān)系從而符合統(tǒng)計(jì)的隨機(jī)性。在滿足上述條件后,可以近似認(rèn)為ADC的采樣是隨機(jī)的,因此采樣輸出為隨機(jī)樣本,就可以利用統(tǒng)計(jì)學(xué)原理來(lái)計(jì)算相關(guān)的靜態(tài)參數(shù)[4]。
下面我們給出相應(yīng)的計(jì)算公式:
對(duì)于本文所需測(cè)試的12位ADC來(lái)說(shuō),要使DNL和INL的誤差精度達(dá)到0.1LSB的最低置信水平為95%,所以需要采樣的樣本數(shù)[5]為:
得到總樣本數(shù)后,本設(shè)計(jì)利用相應(yīng)數(shù)字碼的階躍過(guò)渡電壓差來(lái)得到實(shí)際電壓,并利用計(jì)算公式得到失調(diào)電壓:
A為正弦波幅值,得到失調(diào)電壓后,可以得到每個(gè)數(shù)字碼的階躍過(guò)渡電壓值:
得到數(shù)字碼后進(jìn)而可計(jì)算出相應(yīng)的DNL的值:
其中VF為滿量程電壓。最后可以通過(guò)積分計(jì)算得到相應(yīng)的INL的值:
本文中ADC轉(zhuǎn)換的數(shù)字碼在LabVIEW程序中以數(shù)組的方式存儲(chǔ),基于算法的要求本設(shè)計(jì)將數(shù)組中的數(shù)字碼以十進(jìn)制的形式表示出來(lái),統(tǒng)計(jì)每一個(gè)碼出現(xiàn)的次數(shù)即為相應(yīng)碼的碼箱寬度,之后可根據(jù)公式計(jì)算出所有的靜態(tài)參數(shù)。
統(tǒng)計(jì)碼箱寬度是碼密度直方圖法中尤為重要的一環(huán),具體程序如圖2。先將十進(jìn)制數(shù)組表示的所有輸出碼進(jìn)行排序,得到按照輸出碼從小到大排列的有序數(shù)組。然后將該數(shù)組按照碼的大小進(jìn)行分離,把具有相同碼值的元素分別組成新的數(shù)組,每一個(gè)新數(shù)組的元素個(gè)數(shù)即為不同碼值的數(shù)字碼所對(duì)應(yīng)的碼箱寬度。
對(duì)我們所搭建的LabVIEW程序框圖進(jìn)行驗(yàn)證,得到運(yùn)行結(jié)果如圖3所示。
根據(jù)波形圖可以發(fā)現(xiàn)DNL近似均勻分布于0的兩邊,而INL則表現(xiàn)出MSB處最大的特性,由此可以判斷程序的輸出結(jié)果正確,并且從具體數(shù)值來(lái)看ADC達(dá)到了相應(yīng)的精度。
2.2動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試
為了得到ADC的動(dòng)態(tài)參數(shù),在輸入端施加正弦信號(hào)后,我們使用VB-8012內(nèi)的邏輯分析儀對(duì)ADC輸出端的數(shù)據(jù)進(jìn)行采樣,之后進(jìn)行快速傅里葉變換(FFT)在頻域上得到頻譜圖。
VB-8012獲得采樣數(shù)據(jù)并發(fā)送到上位機(jī),在LabVIEW程序中調(diào)用VB-8012的混合信號(hào)示波器(MSO)數(shù)字通道VI,可以得到數(shù)據(jù)波形格式的采樣數(shù)據(jù),對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行初步處理后調(diào)用頻譜測(cè)量VI進(jìn)行快速傅里葉變換,進(jìn)而可以獲得信號(hào)的功率譜。
根據(jù)頻譜圖,按照定義計(jì)算出基波信號(hào)分量P1,諧波信號(hào)分量PD,噪聲功率PN,最大雜波分量功率PS,根據(jù)下面的公式[6]計(jì)算出相應(yīng)動(dòng)態(tài)參數(shù):
相應(yīng)的LabVIEW程序框圖如圖4所示。
為了驗(yàn)證該程序框圖及算法的正確性,我們使用加入了均勻白噪聲的正弦波作為激勵(lì)信號(hào)進(jìn)行程序檢驗(yàn),計(jì)算得到的有效位數(shù)(ENOB)和其它參數(shù)均符合預(yù)期,輸出的功率譜波形也正確體現(xiàn)了信號(hào)功率和噪聲功率。對(duì)于功率譜分析需要注意的是,必須正好采集整數(shù)個(gè)周期的輸入信號(hào),以實(shí)現(xiàn)相干采樣防止頻譜泄露,這反映到頻域上就表現(xiàn)為譜線能量非常集中。如圖5所示。
3結(jié)束語(yǔ)
長(zhǎng)期以來(lái)高速高性能的ADC主要依靠國(guó)外進(jìn)口。隨著國(guó)內(nèi)集成電路技術(shù)水平的不斷提升,很多ADC已經(jīng)完成了國(guó)產(chǎn)化,如何更加有效地實(shí)現(xiàn)ADC的測(cè)試成為我們需要重視的問(wèn)題。本文提供了一種利用NI Virtual Bench來(lái)實(shí)現(xiàn)ADC自動(dòng)化測(cè)試的方案,并且給出了LabVIEW程序的部分框圖,可供搭建ADC自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)時(shí)進(jìn)行參考。
參考文獻(xiàn):
[1]R. Jacob Baker. CMOS Circuit Design, Layout, and Simulation, Second Edition[M]. WileyIEEE Press, 2004.
[2]National Instruments. 《如何使用LabVIEW自動(dòng)運(yùn)行Virtual Bench》. https://www.ni.com/tutorial/52110/zhs/. 2014.
[3]薛亮, 沈延釗, 張向民. 一種A/D靜態(tài)參數(shù)和動(dòng)態(tài)參數(shù)的測(cè)試方法[J]. 儀器儀表學(xué)報(bào)(第A1期). 2004:771-796.
[4]方穗明, 王占倉(cāng). 碼密度法測(cè)量模數(shù)轉(zhuǎn)換器的靜態(tài)參數(shù)[J]. 北京工業(yè)大學(xué)學(xué)報(bào)(第11期). 2006: 977-981.
[5]Maxim Corp. Histogram testing determines DNL and INL errors, application note 2085.Sunnyvale, USA: Maxim corp, 2003.
[6]朱江. 高精度ADC測(cè)試技術(shù)研究[J]. 電子與封裝(第9期). 2014:9-12,16.
本文來(lái)源于中國(guó)科技期刊《電子產(chǎn)品世界》2019年第1期第73頁(yè),歡迎您寫論文時(shí)引用,并注明出處
評(píng)論