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5個小貼士,提升功率放大器(PA)設(shè)計驗證效率

作者: 時間:2022-05-06 來源:是德科技KEYSIGHT 收藏

),在移動設(shè)備中的重要性不言而喻,尤其是隨著通信技術(shù)的發(fā)展,5G,WiFi 6/6E,UWB等寬帶制式對功放提出了更高的要求,更復(fù)雜的調(diào)制方式,更高的調(diào)制階數(shù),更多的載波聚合,更高的頻段與帶寬,使得測試驗證的復(fù)雜度也隨之提高。

本文引用地址:http://www.butianyuan.cn/article/202205/433791.htm

? 如何提高效率?

? 如何真實地反映本身的EVM指標(biāo)?

? 為什么經(jīng)常遇到不同的測試儀表平臺的EVM測試結(jié)果有很大差別?

相信這些都是大家在平時的工作中常遇到的困擾,基于此,我們總結(jié)了經(jīng)常會遇到的5個典型問題,以及解決問題的小貼士,小伙伴們,來看看這些易踩的“坑”,你都成功避過了嗎?

問題1 設(shè)計仿真階段模型不準(zhǔn)

寬帶高頻PA的設(shè)計,是一項復(fù)雜的工作,需要借助專業(yè)的仿真工具完成。對設(shè)計師而言,PA仿真面臨兩大難題:

一是如何獲得與實測一致準(zhǔn)確的仿真結(jié)果;

二是在PA設(shè)計完成后,模型如何用于后續(xù)的系統(tǒng)驗證或DPD算法驗證。

小貼士

要解決這兩個難題,最重要是獲得準(zhǔn)確的仿真模型,包括大信號,非線性,寬帶模型;也包括無源器件,電路走線,接頭的準(zhǔn)確模型。

針對非線性模型,可以使用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀提取器件的X參數(shù)對非線性模型。針對無源器件,走線,接頭等模型提取,通過設(shè)計夾具,去嵌入,對元件模型進(jìn)行測試提取。使用實測模型進(jìn)行仿真,多次迭代,最終仿真與測試一致。

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圖|利用ADS進(jìn)行寬帶功放設(shè)計

針對系統(tǒng)驗證或DPD算法驗證,還需要考慮寬帶器件的記憶效應(yīng),可以使用ADS仿真軟件,生成FCE模型,用于后續(xù)的系統(tǒng)驗證或DPD算法驗證。也可以通過儀表,搭建半實物測試系統(tǒng),如下圖,將設(shè)計完成的PA實物通過儀表與系統(tǒng)軟件連接,直接完成系統(tǒng)性能驗證或DPD算法驗證。

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圖|是德科技半實物測試系統(tǒng)示意圖

問題2 測試時EVM失真嚴(yán)重

現(xiàn)代通訊對射頻系統(tǒng)的帶寬和工作頻段都提出了苛刻的要求,尤其對于毫米波和超寬帶功放而言,測試平臺所引入的失真和誤差會嚴(yán)重影響最終的測試結(jié)果。

如下圖是我們做過的一個原型機(jī)試驗,采用基于5G候選波形FBMC調(diào)制,通過寬帶矢量源生成的一個載波頻率為20GHz,調(diào)制帶寬達(dá)4GHz的原始信號,其物理層調(diào)制的數(shù)據(jù)傳輸速率達(dá)到了10-20Gbps。

從頻譜曲線可以看出整個頻率范圍內(nèi)不同頻率成分的幅度波動很大,遠(yuǎn)離中心頻率的頻率分離衰減增大,呈現(xiàn)明顯的幅度不平坦,因為信號是由很多個子載波構(gòu)成,這些幅度衰減的頻率成分將使其所在的子載波的信噪比降低,導(dǎo)致EVM下降。

雖然原型機(jī)平臺可以依靠接收機(jī)信道均衡和糾錯等措施仍然可以實現(xiàn)較高的吞吐率,但是如果用于PA或基站的射頻測試,就會嚴(yán)重影響測試EVM的準(zhǔn)確度。

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圖|未校正的超寬帶調(diào)制信號示例

小貼士

對測試平臺進(jìn)行寬帶校正補(bǔ)償 

方法1,儀器預(yù)置校正數(shù)據(jù)。出廠前對儀表自身的寬帶失真進(jìn)行測量并且將校正數(shù)據(jù)存儲在儀表里面,在測試時儀表根據(jù)頻率和帶寬自動應(yīng)用校正數(shù)據(jù),無需額外的校正操作即可進(jìn)行測試。(注:該方法必須儀器支持內(nèi)置校準(zhǔn)功能)

方法2,系統(tǒng)外部校正。使用校準(zhǔn)器在現(xiàn)場對儀表進(jìn)行寬度校正,實時產(chǎn)生校正數(shù)據(jù)補(bǔ)償?shù)絻x表中,使儀表的EVM達(dá)到最優(yōu)。對信號源和分析儀以及外部器件進(jìn)行獨立的校正,校正數(shù)據(jù)即可以應(yīng)用到儀表測試端口,也可以包含測試中使用的外部附件或射頻器件模塊一起校正,校正數(shù)據(jù)可以應(yīng)用到被測件的輸入或輸出端口,而且現(xiàn)場的各種環(huán)境和工作條件產(chǎn)生的影響也會被包括在校正操作中,所以目前應(yīng)用這種方式總是能在現(xiàn)場實現(xiàn)儀表最佳的EVM特性。

是德科技的測試平臺,提供了結(jié)合上述兩種方案的最優(yōu)解。

? 信號生成部分,M9384B VXG 微波信號發(fā)生器內(nèi)置校準(zhǔn)功能,輸出信號校準(zhǔn)到端口,通過用戶自定義的自動通道相應(yīng)校正和S參數(shù)去嵌入,將信號校準(zhǔn)面延伸到PA輸入端面;

? 信號分析部分,采用U9361 RCal接收機(jī)校準(zhǔn)儀去除線纜轉(zhuǎn)接頭等外部附件帶來的頻率響應(yīng),將信號校準(zhǔn)面延伸至PA輸出端面,如下圖,是目前推薦使用的方法。 

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圖|外部校準(zhǔn)方法示意(針對線性失真)

問題3 測量EVM一致性差

測試附件,諸如轉(zhuǎn)接頭和線纜的選擇,是PA及寬帶收發(fā)測試中很容易被忽略的環(huán)節(jié),而在實際的測試中,測試附件會對結(jié)果產(chǎn)生很大的影響,尤其是毫米波頻段使用的線纜和接頭,相對于6GHz以下的低頻段,一般存在更大的線性失真和不平坦性。 

小貼士

方法1,選用高質(zhì)量的轉(zhuǎn)接頭和電纜,以保證測試一致性。

方法2,在選用高質(zhì)量測試附件的同時,采用現(xiàn)場外部校正的方式,把測試附件的誤差包含在校正數(shù)據(jù)里面,去除這些部分的影響,具體方法參考前文。

問題4 加入驅(qū)動放大后EVM惡化嚴(yán)重

在測試大功率PA時經(jīng)常遇到的一個問題就是驅(qū)動放大,由于大功率PA往往需要較高的Pin,而毫米波矢量信號源的最佳線性輸出電平通常低于要求,所以往往需要在被測PA輸入端加一個驅(qū)動放大器,下圖是一個實際測試連接框圖:

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圖|5G大功率PA測試EVM連接框圖

了用于5G寬帶信號產(chǎn)生和分析的信號源和分析儀外,驅(qū)動放大器自身也給測試帶來很大影響。雖然一般采用的驅(qū)動放大器都是寬帶線性放大器,只要設(shè)置合適的輸入和輸出功率區(qū)間,放大器工作在線性區(qū),非線性失真很小,其仍然存在線性失真,驅(qū)動放大器本身的幅頻響應(yīng)和相頻響應(yīng)波動仍然對EVM產(chǎn)生較大的影響。

我們實際測試中發(fā)現(xiàn),在26GHz-29GHz頻率范圍,800MHz調(diào)制帶寬條件下,信號源本身輸出信號的EVM已經(jīng)校正到0.8%,但是經(jīng)過驅(qū)動放大器之后,EVM會惡化到最大3%-4%,這不僅導(dǎo)致最終被測PA輸出信號的EVM很高,而且甚至超過了廠家對系統(tǒng)級EVM的要求。

小貼士

采用前文中提到的外部校準(zhǔn)方法,如下圖,使信號源加驅(qū)動放大器的整體EVM達(dá)到1%左右,這樣再連接被測PA進(jìn)行EVM測試,就獲得了比較理想的結(jié)果,因為這時驅(qū)動放大器的線性失真不會對測試產(chǎn)生影響。

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圖|基于RCal的外部校正方法解決驅(qū)動放大器影響EVM測試問題

問題5 在片測試時多次下針導(dǎo)致低效及損耗

高集成度的PAFEM在片測量中,需要對諸多參數(shù)進(jìn)行測量,諸如S 參數(shù)、噪聲系數(shù)、互調(diào)失真、壓縮,脈沖射頻測量等,而不同的參數(shù)通常需要用不同的系統(tǒng)進(jìn)行測量。

多套系統(tǒng)完成測試需要多次下針,也會在PAD上留下痕跡 ,對測試效率及精度都會造成不同程度的影響,如下圖,1次下針與4次下針后PAD示意,可以明顯看到,多次下針后,PAD上留下了明顯的痕跡,對測試板及探針是個極大的損耗,而且每次測量,都需要重新校準(zhǔn),費時費力。

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圖|多次下針后,PAD上留下明顯痕跡

小貼士

采用單次連接,多次測量的方式,即一次性連接被測器件,用一套系統(tǒng)完成原來多個系統(tǒng)才能完成的工作,可以減少連接復(fù)雜性和工作量。目前,是德科技的PNA-X系列高性能網(wǎng)絡(luò)分析儀可以方便的實現(xiàn)只用一組連接對有源或無源器件進(jìn)行多項測量:S 參數(shù)、噪聲系數(shù)、增益壓縮、THD、IMD 和頻譜分析。

結(jié)語

PA設(shè)計與驗證涉及到諸多內(nèi)容,研發(fā)端與生產(chǎn)端的測試方法也不盡相同,除了上述提到的幾點,還有很多需要注意的地方:

? 比如在設(shè)計時如果不事先預(yù)留測試點,后期便會出現(xiàn)需要通過“飛線”等手段引出信號進(jìn)行驗證;

? 比如需調(diào)整電路工作在線性區(qū),否則易出現(xiàn)非線性失真,那就需要考慮通過額外的算法來消除其影響;

? 比如外圍電路不匹配會導(dǎo)致很大的測試誤差; 

? 以及采用先進(jìn)算法包括DPD,CFR以及包絡(luò)跟蹤(ET)等。 



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