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評(píng)定封裝可靠性水平的MSL試驗(yàn)

作者: 時(shí)間:2013-11-30 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
width: 0px">  在試驗(yàn)樣品中,如一個(gè)或大于一個(gè)失效,這種封裝形式將被認(rèn)為預(yù)定的試驗(yàn)級(jí)別失效。若存在下例任一情況,則認(rèn)為樣品失效:

  ·在40倍光學(xué)顯微鏡下看到外部開(kāi)裂;

  ·電性能測(cè)試失效;

  ·貫穿一焊接的金絲、金球壓點(diǎn)或楔形壓點(diǎn)的內(nèi)部開(kāi)裂;

  ·內(nèi)部開(kāi)裂延伸從任意引線腳到其他內(nèi)部的界面(引線腳、芯片、芯片托板);

  ·內(nèi)部開(kāi)裂延伸從任意內(nèi)部的界面到塑封體的外部大于2/3的長(zhǎng)度;

  ·通過(guò)裸視,明顯的看到塑封體平面的變化是由于翹曲、腫脹或膨脹,如樣品仍然滿(mǎn)足共平面和下沉尺寸的話(huà),可認(rèn)為通過(guò)。

 ?。?)需要進(jìn)一步評(píng)估的標(biāo)準(zhǔn) 評(píng)價(jià)分層對(duì)于器件的影響,半導(dǎo)體制造商可以按分層的要求、JEsD22-A113和JESD47或半導(dǎo)體制造商的內(nèi)部程序文件執(zhí)行評(píng)估試驗(yàn)。分層測(cè)試是指從潮濕前到回流后,回流前后之間分層變化的值。它所計(jì)算的是分層占有關(guān)聯(lián)的總區(qū)域的百分比的變化值。評(píng)估可以由應(yīng)力試驗(yàn)、歷史的一般數(shù)據(jù)分析等組成。如果表面貼裝的器件能通過(guò)電性能測(cè)試,即使在芯片托板、散熱器、芯片背面(僅限于芯片上引線)上有分層,但是沒(méi)有開(kāi)裂或其他的分層,可以認(rèn)為它們?nèi)詽M(mǎn)足規(guī)定分層的標(biāo)準(zhǔn),同時(shí)被認(rèn)為通過(guò)潮氣靈敏度級(jí)別。

  (9)金屬框架封裝的分層的失效標(biāo)準(zhǔn):

  ·在芯片的有源區(qū)域沒(méi)有分層;

  ·任何芯片托板的接地區(qū)域金絲球焊表面或芯片上引線的器件的分層不大于10%;

  ·延著任何起隔離作用的聚合膜跨越任何金屬界面的分層不大于10%;

  ·在高熱特性封裝中通過(guò)芯片粘接區(qū)域或需要電接觸到芯片背面的器件,分層/開(kāi)裂不大于10%;

  ·沒(méi)有分層超過(guò)它的整個(gè)長(zhǎng)度的表面破裂界面(一個(gè)表面破裂的界面包括引線腳、tie bars、散熱器、熱芯塊等)。

  (10)失效標(biāo)準(zhǔn)

  所有失效必須分析并確認(rèn)該失效機(jī)理是否與潮氣敏感度有關(guān)聯(lián)。如果在選擇的級(jí)別中,失效不是起因于回流潮氣敏感度,則認(rèn)為這器件仍通過(guò)相應(yīng)的潮氣敏感度級(jí)別。

  (11)可靠性評(píng)估試驗(yàn)的項(xiàng)目/條件和判據(jù)

  對(duì)于預(yù)定的MSL級(jí)別,先進(jìn)行MSL的預(yù)處理試驗(yàn)(除了MSL流程圖中的第2、4、6、9步)。預(yù)處理試驗(yàn)后,建議做以下兩項(xiàng)可靠性評(píng)估試驗(yàn)(試驗(yàn)樣品的數(shù)量和合格判決可參考JESD47中的試驗(yàn)方案)。

  ·168小時(shí)#121℃100%RH 15Psig PCT測(cè)試。

  ·100次循環(huán)#一65-150℃T/C測(cè)試。

  (12)潮氣/回流敏感度分級(jí)

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