測試挑戰(zhàn):測試技術的分析 作者： 時間：2013-11-30 來源：網(wǎng)絡 加入技術交流群 掃碼加入和技術大咖面對面交流海量資料庫查詢 收藏 <a target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=88&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a635e61e' border='0' alt='' /></a> <a target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=87&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a576c0a2' border='0' alt='' /></a> just: auto; -webkit-text-stroke-width: 0px"> 一些RFID設備使用了經(jīng)過優(yōu)化的面向特定應用的專用通信機制。這種情況下，工程師需要一種分析儀能夠提供多種調制和編碼機制，可根據(jù)所使用的特定格式，對這些調制和編碼機制進行編程調整。 上一頁 1 2 下一頁
加入技術交流群
![[汽車創(chuàng)新三大驅動力]系列之二:如何應對車輪上的數(shù)據(jù)中心所帶來的測試挑戰(zhàn)?](http://editerupload.eepw.com.cn/202303/1679539930543858.png)
評論