IC測試常見問答

我在測試的時候，有些DC參數(shù)在同樣的條件下幾次測試的結(jié)果相差很大。不明白是為什么?

　　你使用的測試機(jī)臺是什么型號?測試的產(chǎn)品是屬于哪種?還有具體什么參數(shù)，相差多少?

　　我們用的是credence kalos，測試的是memory，在測ICC時，可能從幾百uA--幾十mA，實際值應(yīng)該在十幾mA。

　　credence kalos 我沒有用過，不過ICC不穩(wěn)定原因有很多，如果其他同批產(chǎn)品沒有這個問題的話可能是這個IC的問題，可以先做下BENCHTEST，一般初期診斷是更換測試機(jī)臺或者用標(biāo)準(zhǔn)器件做比較。個人看法，僅供參考

　　benchtest是什么意思?還有就是同一顆IC多次測試他為什么會不穩(wěn)定。

　　狀態(tài)不穩(wěn)定可能是ICC不穩(wěn)定的原因 如果同一個芯片測試不穩(wěn)定而且誤差比較大，可從以下2方面去看：

　　1. 在測量時芯片所處的狀態(tài)是否穩(wěn)定。

　　2. 芯片的Input pin是否有Floating，Output pin是否在不停的翻轉(zhuǎn)

　　就是自己搭模擬電路測試，用電源，示波器...比較麻煩，而且需要APPLICATION BOARD，不知道你們有沒有。如果是同一顆不穩(wěn)定，一般會交給DA或者FA去分析，CURVE TRACE先吧。

　　電源干凈么? 先看一下電源腳是否干凈。然后換一下電流的range來看一下，最好用樣品校驗一下。

　　電源很干凈，range應(yīng)該也沒有問題，它有10mA左右的電流，用25mA的range。應(yīng)該沒有問題，只是有時電流會變成100uA左右。樣品在10mA左右很穩(wěn)定。

　　如果是MEMORY測試,可以對其寫相同的數(shù)據(jù)讓口上不翻轉(zhuǎn).然后看看會不會好點.但是據(jù)你所說樣品沒有問題的話,可能這個問題無解.

　　多比較

　　IDD (ICC)一般為一個器件的特征值，分布范圍不會很大，100uA-10mA的變化肯定是異常的。

　　1) 如果真的是樣品在10mA左右很穩(wěn)定, 那么設(shè)備及測試程序沒有問題，產(chǎn)品的問題可能很大，也不需要花費很大腦筋，正如Code631兄說的，交給DA/FA。

　　2)如果產(chǎn)品沒有問題，則要確認(rèn)Hardware, Test Program方面的問題

　　-〉 Hardware重點確認(rèn)Relay的動作是否穩(wěn)定，可以在程序Meter讀之前設(shè)置斷點，然后不停的Strobe Meter，看Meter值是否穩(wěn)定。這是驗證Hardware動作靜止的情況下，電流值是否跳動。

　　-〉 確認(rèn)Drive Pattern是否正常，IDD和Pattern有直接的關(guān)系，如果Pattern編寫不正常，會造成DUT功耗不穩(wěn)定。

　　但是，如果標(biāo)準(zhǔn)樣品穩(wěn)定，就不