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利用TDR (時域反射計)測量傳輸延時

作者: 時間:2011-11-22 來源:網絡 收藏
傾斜沿之間進行得到的,與上述DATA1說明相同。然而,需要注意的是:這些傾斜沿之間的電平同樣為50Ω。該值表明較短的DUT1 PCB金屬線非常接近于理想的50Ω。
  • 從上述內容得到DATA1引線阻抗為63Ω,DUT1節(jié)點阻抗為50Ω。這意味著DATA1輸入的金屬線寬比DUT1輸出的線寬窄。理想情況下,它們應該相同。發(fā)現(xiàn)了這一差異,這不一定是系統(tǒng)錯誤。DUT1引線阻抗稍高是由于較窄的金屬線造成的,但它同時也減小了DATA1金屬線的電容。數據線是最長的引線,為了保證最寬頻帶的要求,該電容應盡量小。
  • DUT1的PCB延時很難測量,其阻抗與電纜相同。如果MAX9979沒有焊接到電路板上,我們將看到“開路”狀態(tài)的三級階躍信號。但是,在焊接了MAX9979的條件下仍然可以測量到這一延時。通過檢查電容效應產生的傾斜沿,可以看出SMA連接器在電路板的焊接位置以及MAX9979 DUT1引腳的位置。我們同樣可以查看SMA連接器電感產生的凸峰,確認它處于兩個傾斜沿之間。解決了這些問題,可以測得延時為360ps,將該值減半,得到實際DUT1 PCB電路板的延時,該延時為180ps。
  • 第4步:用兩條相同的SMA電纜連接差分信號發(fā)生器,測量CSA8000的基線延時。

    利用TDR (時域反射計)測量傳輸延時
    圖10. 測量來自發(fā)生器的DATA1/NDATA1信號

    圖10所示,C1和C2是兩個互補PECL信號,幅值大約為450mV。這些DATA1和NDATA1信號直接由外部的信號發(fā)生器產生,送入CSA8000輸入。我們采用CSA8000的20GHz采樣探頭,從該數據可得出以下結果:

    • M1是差分信號C1 - C2的數學計算值,幅值為900mV,10%/90%上升和下降時間接近于700ps。這意味著DATA1/NDATA1信號上沒有任何干擾。
    • 我們還對Crs或M1差分信號的過零點進行測量,測得數據為29.56ns。觸發(fā)示波器,我們僅關注這些過零點中的一個。給MAX9979上電,然后測量相同過零點,因為它是通過整個電路板的延時。
    • 該延時還包括兩條輸入電纜的延時,因為這些電纜也被用于測量通過電路板的信號延時,其延時相互抵消。盡管如此,最好還是使用盡可能短的電纜,只是該延時對傳輸延時測量并不重要。

    第5步:MAX9979EVKIT上電。

    利用TDR (時域反射計)測量傳輸延時
    圖11. MAX9979上電并為CSA8000的50Ω負載產生3V信號

    將DATA1和NDATA1信號連接至已上電的MAX9979EVKIT的DATA1/NDATA1輸入。使用與第4步相同的電纜。按照傳輸延時測量技術資料的規(guī)定,將MAX9979設置為規(guī)定的0V至3V信號,并將輸出端接至50Ω。本例中,50Ω負載為CSA8000輸入,從圖11獲得的數據點顯示:

    • 當前的輸出信號幅值為0V至1.5V,與預期情況一致,由于50Ω負載的存在而被除以2。
    • 上升和下降時間完全在MAX9979的技術指標范圍內。由此,我們可以確認由干凈、有效的DATA1/NDATA1驅動產生完好、干凈、有效的輸出。
    • CSA8000保持與第5步相同的設置,觸發(fā)方式與第4步相同。我們可以看到過零點為33.77ns。

    第6步:計算MAX9979的傳輸延時。

    通過MAX9979EVKIT的總延時為:

    33.77ns - 29.56ns = 4.21ns

    計算測量結果:

    • 減去0.695ns的DATA1 PCB引線延時,所得延時為3.515ns。
    • 減去0.18ns的DUT1 PCB引線延時,所得延時為3.335ns。
    • 減去CSA8000的2in電纜延時,該延時為402ps,所得延時為2.933ns。

    MAX9979技術指標中,這種配置下的標稱延時為2.9ns。這里,我們可以得到焊接了MAX9979的評估板的延時為2.933ns,非常接近于預期值。

    總結

    以上分析表明利用測量傳輸延時具有以下優(yōu)勢:

    • 傳輸延時測量結果非常準確。
    • 無需有源探頭(避免由此引入的誤差)。
    • 簡單技巧可用于絕大多數傳輸測量。
    • 阻抗測量保證正確的連接器和PCB引線阻抗。
    • 利用信號能夠分析信號通路的附加電容和電感,必要時可作為重新設計的反饋信息。
    • 簡化模型和仿真工具確保獲得正確結果,并可驗證測量配置。
    • 采用良好的測試方法測量關鍵指標。

    隨著信號速率的提高,時序測量的誤差和錯誤會造成不正確的電路規(guī)劃、器件選擇及系統(tǒng)設計。高速測量中保持良好的方法能夠避免亡羊補牢造成的損失。本文著重強調了這些良好的設計習慣。

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    關鍵詞: TDR 時域反射計 測量

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