如何選擇合適的電源模塊
許多電信、數(shù)據(jù)通信、電子數(shù)據(jù)處理和無線網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)都在利用分布式電源架構(gòu)供電。這些復(fù)雜的系統(tǒng)需要電源管理解決方案,以便能夠監(jiān)測和控制電源,使之達(dá)到非常精確的參數(shù)。為了達(dá)到這樣的性能水平,大多數(shù)設(shè)計都使用了FPGA、微處理器、微控制器或內(nèi)存塊(memory block)。
這種設(shè)計的復(fù)雜程度給服務(wù)于這些通信基礎(chǔ)設(shè)施公司的應(yīng)用設(shè)計人員帶來了沉重的負(fù)擔(dān)。他們的選擇很簡單:要么進(jìn)行投資以顯著改善其內(nèi)部的電源管理能力,要么依靠外部設(shè)計公司的專長。這些選擇都是不太可取的。
最近,出現(xiàn)了一個新的選擇:負(fù)載點(diǎn)DC/DC電源模塊。這些模塊結(jié)合了實現(xiàn)即插即用(plug-and-play)解決方案所需的大部分或全部組件,可以取代多達(dá)40個不同的組件。這樣就簡化了集成并加速了設(shè)計,同時可減少電源管理部分的占板空間。
從這些模塊獲得你需要的性能,同時滿足你的預(yù)算和空間要求的關(guān)鍵在于,需要一家掌握不同可用技術(shù)的公司。
最傳統(tǒng)和最常見的非隔離式DC/DC電源模塊仍是單列直插(SiP)封裝,見圖1。這些開放框架的解決方案的確在減少設(shè)計復(fù)雜性方面取得了進(jìn)展。然而,最簡單的是在印刷電路板上使用標(biāo)準(zhǔn)封裝的組件。這些組件是典型的低頻率設(shè)計(大約為300kHz),其功率密度不是恒定的。因此,其尺寸使之難以為許多空間受限的應(yīng)用所接受。下一代電源模塊需要在減少的外形規(guī)格(form factor)方面取得重大進(jìn)展,以提高設(shè)計的靈活性。
圖1:傳統(tǒng)SIP開放式模塊。
為了實現(xiàn)設(shè)計人員需要的更高功率密度,電源管理供應(yīng)商必須推高開關(guān)頻率,以減小能源存儲單元的尺寸。但是,利用標(biāo)準(zhǔn)組件增加開關(guān)頻率會導(dǎo)致低效率,這主要是由于MOSFET的開關(guān)損耗。這推動著業(yè)界尋找成本有效地降低DC/DC模塊中MOSFET的驅(qū)動和電源路徑寄生阻抗的方法,生產(chǎn)與單個集成電路尺寸相仿的成型模塊。
ISL8201M DC/DC模塊
Intersil的ISL8201M模塊集成了一個完整的DC/DC轉(zhuǎn)換器所需的大多數(shù)組件,包括PWM控制器、MOSFET和電感器。其輸入電壓范圍為3-20V,電流能力為10A。它可實現(xiàn)比傳統(tǒng)SIP DC/DC模塊高得多的開關(guān)頻率,通過不使用MOSFET封裝并將這些組件共同封裝在一個緊湊的15×15×3.5mm的QFN封裝中(見圖2),實現(xiàn)了極佳的效率和熱性能。ISL8201M是一個系列模塊中的第一個產(chǎn)品,尺寸和性能的進(jìn)一步改善正在開發(fā)當(dāng)中。
圖2:ISL8201M概念封裝圖。
從效率的角度看,ISL8201M實現(xiàn)了極佳的性能。此外,QFN封裝優(yōu)良的熱性能可以實現(xiàn)非常緊湊的設(shè)計,而不需要散熱片。這使得ISL8201M達(dá)到了大約200W/in3的功率密度,約為傳統(tǒng)開放式框架模塊的4倍。
圖3:ISL8201M效率曲線(Vin = 12V)。
當(dāng)評估一個特定應(yīng)用的解決方案時,尺寸和成本是兩個主要的考慮因素。但是,在終端應(yīng)用中其他因素可能同樣重要或更為重要。其中一些額外考慮因素正在研究。
可靠性
所有系統(tǒng)設(shè)計人員必須處理的一個主要問題是可靠性。許多分布式電源架構(gòu)應(yīng)用需要足足運(yùn)行多年,而很少停工??煽啃栽谙到y(tǒng)總擁有成本方面發(fā)揮著重要作用。在處理功率模塊時,由于共同封裝組件的數(shù)量、高功率密度引起的熱疲勞現(xiàn)象,還有附件機(jī)制(attachment mechanism)故障的緣故,可靠性問題非常重要。
電氣系統(tǒng)和組件的故障率遵循浴缸曲線的形狀(見圖4)。這個曲線從一種狀態(tài)到另一種狀態(tài)陡峭而銳利的過渡取決于所使用組件的選擇、這些組件的額定值及其與模塊中其他組件的兼容性。例如,在20V輸入能力的DC/DC模塊中使用一個30V MOSFET是可以接受的,只要精心選擇驅(qū)動器、肖特基二極管和緩沖電路即可。
圖4:生命周期故障率。
電源模塊中的熱疲勞現(xiàn)象是由電源轉(zhuǎn)換效率低下和浪費(fèi)了有限的可用空間造成的。這最終會增加溫度上升速率,并因此縮短了產(chǎn)品的使用壽命。為了盡量減少溫度對平均無故障時間(MTBF)的影響,系統(tǒng)設(shè)計人員應(yīng)考慮散熱問題、有效氣流,以及基于模塊功率損耗的降額曲線。
圖5:典型的降額功率損耗曲線。
另外一個導(dǎo)致重大故障的現(xiàn)象是由焊點(diǎn)裂紋造成的“溫度跑道”。如果模塊受到機(jī)械振動或多次溫度循環(huán)沖擊,裂紋可能在焊點(diǎn)中逐步展開,最終可能使組件脫離基板。這將導(dǎo)致電阻的增加,反過來又增加了溫度應(yīng)力。這些事件可能會重復(fù),直至循環(huán)達(dá)到線剪切模式并導(dǎo)致災(zāi)難性的故障。
在ISL8201M中,系統(tǒng)設(shè)計人員獲得了一個針對上述可靠性基準(zhǔn)進(jìn)行了廣泛認(rèn)證和測試的解決方案。
電氣性能
在選擇一個最好的模塊時,系統(tǒng)設(shè)計人員面臨的主要困難之一是尋求性能、可靠性和價格實惠之間的微妙平衡。這項任務(wù)的難度因標(biāo)準(zhǔn)化測試條件和測量結(jié)果的缺乏被放大了,特別是涉及數(shù)據(jù)表中公布的一些主要參數(shù)時,如功率能力、效率和瞬態(tài)響應(yīng)。
在比較效率時,你必須考慮到輸入電壓、輸出電壓和電流水平,在該點(diǎn)比較效率。瞬態(tài)響應(yīng)是另一個參數(shù),它需要一些分析,以便有一個有效的比較。你必須確保輸入和輸出電壓是相同的,輸出電容有相同的值和類似的參數(shù)(ESR、ESL等),最后,施加的暫態(tài)電流步驟均為相同的幅度和速度。
熱性能
在許多應(yīng)用中,電源模塊需要在富有挑戰(zhàn)性的環(huán)境中工作。在比較一個模塊的電源能力時,不應(yīng)只著眼于25℃時的電性能,還要考慮系統(tǒng)的環(huán)境溫度、氣流和將模塊的熱量傳到外面的方法。例如,Intersil的ISL820xM系列采用的QFN封裝旨在通過印刷電路板實現(xiàn)最佳的熱轉(zhuǎn)移,因此模塊下的大型銅板將改善整個電源的性能。
總之,新的更高功率密度的選擇已經(jīng)以非隔離負(fù)載點(diǎn)的DC/DC轉(zhuǎn)換器的形式進(jìn)入市場。Intersil ISL8201M DC/DC模塊就是這樣的一個例子。它以小巧的15×15mm QFN封裝提供了極佳的效率和熱性能。在評估具體應(yīng)用的DC/DC電源模塊時,必須注意充分研究各種方案的功能。設(shè)計人員應(yīng)經(jīng)過遴選程序,比較它們的電性能和熱性能、物理尺寸,以及應(yīng)用要求的可靠性指標(biāo)。
評論