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電磁兼容性的設(shè)計(jì)與測量方案

作者: 時(shí)間:2011-10-15 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
1、主要技術(shù)參數(shù)

  干擾(Electromagnetic Interference),簡稱EMI,有傳導(dǎo)干擾和輻射干擾兩種。為了防止一些電子產(chǎn)品產(chǎn)生的干擾影響或破壞其它電子設(shè)備的正常工作,各國政府或一些國際組織都相繼提出或制定了一些對(duì)電子產(chǎn)品產(chǎn)生干擾有關(guān)規(guī)章或標(biāo)準(zhǔn),符合這些規(guī)章或標(biāo)準(zhǔn)的產(chǎn)品就可稱為具有電磁EMC(Electromagnetic Compatibility)。電磁EMC標(biāo)準(zhǔn)不是恒定不變的,而是天天都在改變,這也是各國政府或經(jīng)濟(jì)組織,保護(hù)自己利益經(jīng)常采取的手段。應(yīng)重點(diǎn)考慮電路設(shè)計(jì)、隔離退耦、濾波、接地、屏蔽以及射頻資源的分配等問題。舉例說明,設(shè)計(jì)電路時(shí)宜選噪聲高、抗干擾能力強(qiáng)的CMOS電路來代替TTL電路,用無解點(diǎn)的可視具體情況選用低通濾波器、高通濾波器或有源濾波器。利用隔離變壓器或光耦合器可實(shí)現(xiàn)信號(hào)隔離及阻抗變換。選用電磁良好的VXI總線儀器系統(tǒng)來構(gòu)成測試系統(tǒng)。

  

電磁兼容性的設(shè)計(jì)與測量方案

  2、電磁兼容性的測量

  

電磁兼容性的設(shè)計(jì)與測量方案

  

干擾分析儀電路框圖



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