逐次比較式ADC 采樣頻率的選取及應(yīng)用
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為保證TLC2543 的采樣誤差在1/16 L SB 之內(nèi)， 單片機提供給TLC2543 的f I/O 不應(yīng)高于2。 325MHz。當單片機提供給TLC2543 的f I/O 分別為4MHz 和2MHz 時， 其等速加載的控制結(jié)果見圖4 和圖5。
由圖4 可見， 由于其f I/O 大于2。 325 MHz，TLC2543 的內(nèi)部等效電容充電不完全， 因此采樣誤差較大， 從而控制品質(zhì)較差。圖5 中f I/O 小于2。 325MHz， TLC2543 的內(nèi)部等效電容充電完全， 保證了其采樣誤差在1/16 L SB 之內(nèi)， 因此其控制品質(zhì)較好。
總 結(jié)
通過簡化測控系統(tǒng)前向通道的等效模型， 說明了如何控制逐次比較式ADC 的采樣頻率與等效信號源的輸出阻抗匹配， 從而保證ADC 的采樣誤差在1/16L SB 之內(nèi)L。并通過實驗對比， 驗證了其有效性。
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