新聞中心

EEPW首頁 > 模擬技術(shù) > 設(shè)計(jì)應(yīng)用 > 逐次比較式ADC 采樣頻率的選取及應(yīng)用

逐次比較式ADC 采樣頻率的選取及應(yīng)用

作者: 時(shí)間:2008-11-26 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
在Ci = 100 (pF) 及R i = 1 (kΩ) 時(shí), 另測(cè)得信號(hào)放大電路的輸出R s = 2 1 (kΩ)

  

  為保證TLC2543 的采樣誤差在1/16 L SB 之內(nèi), 單片機(jī)提供給TLC2543 的f I/O 不應(yīng)高于2。 325MHz。當(dāng)單片機(jī)提供給TLC2543 的f I/O 分別為4MHz 和2MHz 時(shí), 其等速加載的控制結(jié)果見圖4 和圖5。

  

  

  由圖4 可見, 由于其f I/O 大于2。 325 MHz,TLC2543 的內(nèi)部等效電容充電不完全, 因此采樣誤差較大, 從而控制品質(zhì)較差。圖5 中f I/O 小于2。 325MHz, TLC2543 的內(nèi)部等效電容充電完全, 保證了其采樣誤差在1/16 L SB 之內(nèi), 因此其控制品質(zhì)較好。

  總 結(jié)

  通過簡(jiǎn)化測(cè)控系統(tǒng)前向通道的, 說明了如何控制ADC 的與等效信號(hào)源的輸出阻抗匹配, 從而保證ADC 的采樣誤差在1/16L SB 之內(nèi)L。并通過實(shí)驗(yàn)對(duì)比, 驗(yàn)證了其有效性。


上一頁 1 2 3 4 下一頁

評(píng)論


相關(guān)推薦

技術(shù)專區(qū)

關(guān)閉