基于FPGA的PCB測試機(jī)硬件電路設(shè)計研究

　　引言

　　PCB 光板測試機(jī)基本的測試原理是歐姆定律，其測試方法是將待測試點間加一定的測試電壓，用譯碼電路選中PCB 板上待測試的兩點，獲得兩點間電阻值對應(yīng)的電壓信號，通過電壓比較電路，測試出兩點間的電阻或通斷情況。 重復(fù)以上步驟多次，即可實現(xiàn)對整個電路板的測試。

　　由于被測試的點數(shù)比較多， 一般測試機(jī)都在2048點以上，測試控制電路比較復(fù)雜，測試點的查找方法以及切換方法直接影響測試機(jī)的測試速度，本文研究了基于FPGA的硬件控制系統(tǒng)設(shè)計。

　　硬件控制系統(tǒng)

　　測試過程是在上位計算機(jī)的控制下，控制測試電路分別打開不同的測試開關(guān)。測試機(jī)系統(tǒng)由以下幾部分構(gòu)成: 上位計算機(jī)PC104 、測試控制邏輯(由FPGA 實現(xiàn)) 、高壓測試電路。 其中上位機(jī)主要完成人機(jī)交互、測試算法、測試數(shù)據(jù)處理以及控制輸出等功能。 FPGA 控制高壓測試電路完成對PCB 的測試過程。

　　本系統(tǒng)以一臺PC104 為上位計算機(jī)，以FPGA為核心，通過PC104 總線實現(xiàn)上位機(jī)對測試的控制。

　　測試系統(tǒng)總體框圖如圖1所示。

　　FPGA與PC104的接口電路

　　PC104總線是一種專為嵌入式控制定義的工業(yè)控制總線，其信號定義與ISA 總線基本相同。 PC104總線共有4 類總線周期，即8 位的總線周期、16 位的總線周期、DMA 總線周期和刷新總線周期。 16 位的I/O總線周期為3 個時鐘周期，8 位的I/O總線周期為6 個時鐘周期。 為了提高通信的速度，ISA總線采用16 位通信方式，即16 位I/O方式。 為了充分利用PC104的資源，應(yīng)用PC104的系統(tǒng)總線擴(kuò)展后對FPGA 進(jìn)行在線配置。正常工作時通過PC104總線與FPGA進(jìn)行數(shù)據(jù)通信。

　　FPGA與串行A/D及D/A器件的接口

　　根據(jù)測試機(jī)系統(tǒng)設(shè)計要求，需要對測試電壓及兩通道參考電壓進(jìn)行自檢，即A/D轉(zhuǎn)換通道至少有3 路。 兩路比較電路的參考電壓由D/A輸出，則系統(tǒng)的D/A通道要求有兩通道。 為了減少A/D及D/A的控制信號線數(shù)，選用串行A/D及D/A器件。 綜合性能、價格等因素， 選用的A/D器件為TLC2543，D/A器件為TLV5618。

　　TLV5618是TI公司帶緩沖基準(zhǔn)輸入(高阻抗)的雙路12 位電壓輸出DAC，通過CMOS 兼容的3線串行總線實現(xiàn)數(shù)字控制。器件接收16 位命令字，產(chǎn)生兩路D/A模擬輸出。TLV5618只有單一I/O周期，由外部時鐘SCL K決定，延續(xù)16 個時鐘周期，將命令字寫入片內(nèi)寄存器，完成后即進(jìn)行D/A轉(zhuǎn)換。TLV5618讀入命令字是從CS的下降沿開始有效，從下一SCLK的下降沿開始讀入數(shù)據(jù)，讀入16位數(shù)據(jù)后即進(jìn)入轉(zhuǎn)換周期，直到下次出現(xiàn)CS的下降沿。 其操作時序圖如圖2 所示。

　　TLC2543是TI公司的帶串行控制和11個輸入端的12 位、開關(guān)電容逐次逼近型A/D轉(zhuǎn)換器。 片內(nèi)轉(zhuǎn)換器有高速、高精度和低噪音的特點。 TLC2543工作過程分為兩個周期：I/O周期和轉(zhuǎn)換周期。I/O周期由外部時鐘SCLK決定，延續(xù)8、12或16個時鐘周期，同時進(jìn)行兩種操作: 在SCLK上升沿以MSB方式輸入8位數(shù)據(jù)到片內(nèi)寄存器；在SCLK下降沿以MSB 方式輸出8、12、16位轉(zhuǎn)換結(jié)果。轉(zhuǎn)換周期在I/O周期的最后一個SCLK下降沿開始，直到EOC信號變高，指示轉(zhuǎn)換完成。 為了與TLV5618的I/O周期一致，采用了MSB方式，使用CS的16 時鐘傳送的時序。其操作時序如圖3 所示。