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松下32nm HKMG工藝分析出爐

作者: 時(shí)間:2011-03-21 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

日本公司曾表示其首款基于芯片產(chǎn)品將于2010年的10月份上市。而經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的等待之后,最近知名芯片技術(shù)分析公司 Chipworks的分析師Dick James終于發(fā)表了對(duì)這款 HKMG芯片產(chǎn)品的研究報(bào)告,報(bào)告稱該公司經(jīng)過(guò)分析已經(jīng)核實(shí)的這款 HKMG芯片產(chǎn)品采用的是gate first工藝制作。至于為什么號(hào)稱去年10月份已經(jīng)上市,而到現(xiàn)在外界才拿到這款芯片進(jìn)行分析,Dick James則解釋稱:“這款芯片產(chǎn)品確實(shí)如松下所承諾的那樣是在去年10月份即第44周上市的,不過(guò)由于產(chǎn)品流通環(huán)節(jié)繁瑣,因此我們到最近才得到了有關(guān)的實(shí)際產(chǎn)品。”

松下當(dāng)年還曾經(jīng)推出過(guò)基于的45nm制程產(chǎn)品,當(dāng)時(shí)其這款產(chǎn)品上市的時(shí)間和Intel的HKMG 45nm產(chǎn)品非常接近。不過(guò)在32nm節(jié)點(diǎn),Dick James則表示,松下推出同類產(chǎn)品的步調(diào)則“要比Intel慢了一年左右,不過(guò)據(jù)我們所知,松下應(yīng)該是首家開(kāi)始批量生產(chǎn)32nm HKMG芯片產(chǎn)品的廠家?!?/P>

對(duì)松下32nm HKMG芯片產(chǎn)品的分析顯示,這款產(chǎn)品“采用九層金屬互連層設(shè)計(jì)(8層為銅互連,1層為鋁互連),互連層電介質(zhì)則采用了low-k和extra-low-k兩種電介質(zhì)混合的結(jié)構(gòu)。芯片核心尺寸約45平方毫米,采用常規(guī)的FC-BGA封裝形式。最小的金屬觸點(diǎn)節(jié)距尺寸據(jù)松下公布的數(shù)據(jù)為120nm,不過(guò)我們?cè)谥暗姆治鲋械贸龅膶?shí)際節(jié)距尺寸則是125nm左右?!?BR>
松下還宣稱其32nm HKMG產(chǎn)品的性能提升了40%,同時(shí)功耗則減少了40%,芯片面積則縮小了30%。

分析文章進(jìn)一步指出:“可見(jiàn)松下32nm HKMG芯片的柵極采用多晶硅柵+底部TiN金屬功函數(shù)層的結(jié)構(gòu),在TiN層的底部可以觀察到high-k絕緣薄層結(jié)構(gòu)。另外,值得注意的是這款產(chǎn)品的柵極采用了雙側(cè)墻工藝(dual-spacer),雙側(cè)墻工藝有時(shí)又被稱為差動(dòng)式偏移隔離側(cè)墻(differential offset spacer)技術(shù)。另外在晶體管的漏源極頂部可觀察到一層薄薄的氮化物,這顯示松下這款產(chǎn)品的high-k絕緣層底部和硅溝道頂部之間可能采用了氮氧化物(推測(cè)應(yīng)該是SiON)中間層?!?/P>

松下32nm HKMG工藝分析出爐
differential offset spacer圖解

dual-spacer并不算是一項(xiàng)較新的技術(shù),因此在近年的報(bào)道中較少被提及,這種技術(shù)的實(shí)質(zhì)是通過(guò)調(diào)節(jié)側(cè)墻厚度來(lái)調(diào)整柵極的長(zhǎng)度,從而控制漏源極擴(kuò)散區(qū)和柵極的重合程度,以達(dá)到控制溝道有效長(zhǎng)度,及減小漏源極與柵極的寄生電容的作用。

“柵極和漏源極的金屬化工藝(salicide)則采用常見(jiàn)的鎳金屬化摻雜鉑的工藝。不過(guò)松下32nm HKMG產(chǎn)品上產(chǎn)生應(yīng)變力的機(jī)制則比較不明顯,他們采用的既不是基于柵極氮化層的技術(shù),也不是嵌入式SiGe技術(shù),另外也沒(méi)有使用雙應(yīng)變力膜(dual-stress liner:即用兩層分別可對(duì)溝道施加拉伸應(yīng)力和壓縮應(yīng)力的氮化膜控制溝道應(yīng)變力)技術(shù)?!?BR>



當(dāng)年AMD/IBM所用的DSL圖解


回顧松下當(dāng)年的45nm “似乎沒(méi)有使用任何溝道應(yīng)變?cè)鰪?qiáng)技術(shù),PMOS溝道遷移率增強(qiáng)方面則只采用了100>晶向設(shè)計(jì)(普通芯片為110>晶向,但100>晶向的PMOS溝道空穴遷移率相對(duì)較高,當(dāng)然晶向工程的效能與應(yīng)變工程是無(wú)法相比的)。可見(jiàn)松下與Intel的45nm HKMG工藝其訴求的重點(diǎn)不同,Intel側(cè)重于晶體管性能的提升,而松下則側(cè)重于集成度的提高和成本的下降.而到32nm節(jié)點(diǎn),松下的側(cè)重點(diǎn)又增加了high-k絕緣層的使用和由此帶來(lái)的低功耗/低漏電?!?/P>



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