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硅片質(zhì)量對(duì)太陽能電池性能的影響

作者: 時(shí)間:2012-05-25 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
鋸痕、臺(tái)階和厚薄不均片由于在硅片上存在局部區(qū)域的高低起伏和厚度差異,在電池制造的各道工序會(huì)因受力不均而引起碎片率的上升。在絲網(wǎng)印刷工序,尤其對(duì)于硅片局部區(qū)域高低突變的鋸痕和臺(tái)階片,很容易造成電極或背場(chǎng)的漏印,引起電極不良。

本文引用地址:http://www.butianyuan.cn/article/230462.htm

如圖3、4所示,鋸痕、臺(tái)階和厚薄不均片的碎片率、電極不良率和總報(bào)廢與不良率均明顯高于正常硅片,其中總報(bào)廢與不良率比正常硅片高了4%-10%。

硅片質(zhì)量對(duì)太陽能電池性能的影響

圖3各種不良硅片電池生產(chǎn)對(duì)比圖

硅片質(zhì)量對(duì)太陽能電池性能的影響

圖4各種不良硅片組件生產(chǎn)對(duì)比圖

硅片的表面沾污對(duì)性能的影響

硅片質(zhì)量對(duì)太陽能電池性能的影響


圖5手指印造成的硅片表面沾污,在制絨過程中,會(huì)出現(xiàn)如異常

硅片質(zhì)量對(duì)太陽能電池性能的影響


圖6原始硅片未清洗干凈,表面有有機(jī)油污污染或清洗液殘留等造成的硅片表面沾污,在制絨過程中,會(huì)出現(xiàn)異常

硅片質(zhì)量對(duì)太陽能電池性能的影響


圖7硅片表面因?yàn)橛杏臀鄣却嬖?,制絨后未能長(zhǎng)出金字塔結(jié)構(gòu)的絨面

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圖8由于原始硅片手指印和有誤的存在,在制絨過程中無法去除,在PECVD工序會(huì)引起色斑


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