基于Labview軟件的ADC計(jì)算機(jī)輔助測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

本系統(tǒng)利用Labview的虛擬儀器實(shí)現(xiàn)對(duì)數(shù)據(jù)采集卡的數(shù)據(jù)采樣控制，以及對(duì)采集到的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析處理。在控制數(shù)字采集卡的程序中，應(yīng)設(shè)置為外時(shí)鐘采樣以及有限次采樣模式，以實(shí)現(xiàn)信號(hào)的一致性采樣，以及保證采集卡采樣與ADC同步;在對(duì)采集到的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析處理時(shí)，考慮到系統(tǒng)需分析處理二種不同的測(cè)試方法，因此在將數(shù)字采集卡采集到的數(shù)字轉(zhuǎn)化為U16標(biāo)準(zhǔn)數(shù)字格式后，輸入到一個(gè)case結(jié)構(gòu)程序框中，通過(guò)在前面板選擇不同的測(cè)試模式，可以很容易的滿足了測(cè)試軟件對(duì)不同特性參數(shù)的測(cè)試要求。圖3左為碼密度測(cè)試軟件的窗口，右為FFT測(cè)試軟件窗口。它包含了采集卡和ADC的控制設(shè)置以及輸出參數(shù)顯示等功能區(qū)域。

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1.4 測(cè)試結(jié)果

利用上述測(cè)試系統(tǒng)，對(duì)CMOS圖像傳感器中的8Msps 10位ADC進(jìn)行了性能測(cè)試，測(cè)試結(jié)果如表2所示。

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測(cè)試結(jié)果表明，此系統(tǒng)可有效測(cè)出ADC的各項(xiàng)性能參數(shù)。

2 結(jié)論

本文以CMOS圖像傳感器集成流水線型ADC為測(cè)試實(shí)例，以LABview為軟件，搭建了一套能綜合測(cè)試ADC靜態(tài)和動(dòng)態(tài)性能的測(cè)試系統(tǒng)，該系統(tǒng)具有測(cè)試過(guò)程操作簡(jiǎn)單、測(cè)試參數(shù)較全面及硬件成本小等特點(diǎn)，并通過(guò)對(duì)自主設(shè)計(jì)的ADC進(jìn)行測(cè)試，結(jié)果表明該系統(tǒng)可較準(zhǔn)確的表征ADC的性能。