高靈敏度的TIA設(shè)計(jì)及驗(yàn)證
作者：賀建龍
時(shí)間：2014-04-01
來(lái)源：電子產(chǎn)品世界
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高靈敏度的TIA的電路設(shè)計(jì)和仿真驗(yàn)證
本文引用地址：http://www.butianyuan.cn/article/235719.htm經(jīng)過(guò)仔細(xì)思考，借鑒其它設(shè)計(jì)并激發(fā)靈感，設(shè)計(jì)出了一種具有高靈敏度的TIA電路。其具體的電路設(shè)計(jì)如圖2所示。其特點(diǎn)在于將跨阻分為兩部分R1與R2，并且插入一個(gè)對(duì)地的電阻網(wǎng)絡(luò)R3與C1。其中運(yùn)放的正負(fù)端電壓選取0V用來(lái)減少參考點(diǎn)其對(duì)輸出電壓的干擾。在正端串聯(lián)電阻R4可以減少運(yùn)放輸入偏置電流(μA量級(jí))的影響。
假設(shè)運(yùn)放為理想運(yùn)放，令中間節(jié)點(diǎn)為X，具體的電路分析如下：
評(píng)論