在確定了可控硅的型號后,在電路中串聯(lián)不同大小的電抗,觀察
消弧線圈投切電容器時整個電路的電壓波形。
經(jīng)實驗比較后發(fā)現(xiàn),當串聯(lián)電抗器的感抗值占同組電容器的容抗值約6%時電壓波形效果較好,感抗過大或過小得到的電壓波形效果較差。
另外,串聯(lián)電阻可解決投切電容器時電壓波形的畸變問題,但在實際應(yīng)用中電阻存在較大的發(fā)熱和功率損耗問題,故串聯(lián)電阻方案不可行。
由本實驗可總結(jié)出,空心電感的存在能有效解決問題,因為電感具有抑制電流突變的特點,實驗也證實了這一點。
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