應(yīng)用METROTOM斷層掃描測量技術(shù)優(yōu)化試模進程
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德國蔡司新一代的CT測量系統(tǒng)已在全球全面推廣并得以廣泛使用。鑒于其技術(shù)革新性，由此誕生 “METROTOMOGRAPHY” 這樣一個新詞類以準確闡述此高科技新技術(shù)。METROTOM系統(tǒng)由德國蔡司工業(yè)測量部門負責提供全面的的設(shè)計方案，包括高性能CMM的技術(shù)，如精密導(dǎo)軌、驅(qū)動系統(tǒng)、控制系統(tǒng)、超高精密轉(zhuǎn)臺及工業(yè)領(lǐng)域中處于領(lǐng)先的Calypso通用測量軟件平臺，這將賦予此系統(tǒng)具有：
◆ 最重要是：絕佳的測量精度 — 對于典型的塑件而言其測量精度可于9微米起。
◆ 測量結(jié)果具有極佳的重復(fù)性 — METROTOM系統(tǒng)將通過重復(fù)再現(xiàn)性(GRR)測試。
◆ 配備的軟件平臺可全面實現(xiàn)ANSI Y14.5/ISO GDT形位公差測量及評定。
◆ 于60分鐘內(nèi)即可完成掃描 — 如若樣品體積足夠小(如各類醫(yī)療塑料部件)，每次甚至可掃描不止一個組件。
◆ 此掃描過程為非破壞性，掃描完成后即可取回樣品，且您的樣品完整無缺。
典型應(yīng)用
基于X射線原理，樣品內(nèi)部及外部結(jié)構(gòu)皆可實現(xiàn)最佳的可視化效果。通過對整個工件進行一次掃描，可精確快速獲取百分之一百的特征信息量，而更重要的是，這些信息可廣泛應(yīng)用于：
◆ 樣件與CAD模型之間的數(shù)模比對。
◆ 缺陷分析：孔隙率及定性定量分析。
◆ 裝配檢測：內(nèi)部裝配狀態(tài)分析。
◆ 逆向工程：生成STL以用于CAD數(shù)據(jù)的后續(xù)處理。
◆ 基于數(shù)模對比的快速修模。
◆ 高精度三維幾何量尺寸測量技術(shù)。
案例分析：
將樣品置于旋轉(zhuǎn)工作臺面，經(jīng)過精確回轉(zhuǎn)運動后(30-60分鐘)即可生成完整的三維數(shù)據(jù)。CT三維體元數(shù)據(jù)與CAD模型最初具有不同的坐標原點并位于不同的空間位置。
與傳統(tǒng)工業(yè)CT系統(tǒng)所不同的是，該系統(tǒng)無傳統(tǒng)數(shù)據(jù)處理及縮放等誤差，無論如何 METROTOM系統(tǒng)均可提供9+L/50微米起的MPE-E(測量誤差)，其優(yōu)異的測量性能表現(xiàn)涵蓋了工件內(nèi)外的特征元素。MPE-E是ISO國際標準對于幾何量測量中“最大允許示值誤差”的首字母縮寫，并用于描述可追溯的系統(tǒng)測量誤差(精度)。
Calypso測量軟件平臺使用專業(yè)的數(shù)學(xué)參考系(DRF)以快速找正CAD模型數(shù)據(jù)(圖2)。一旦找正完成即實現(xiàn)測量數(shù)據(jù)與CAD模型的完美重疊，CT三維體元數(shù)據(jù)集即成為CAD表面的“邊界”，其揭示了樣件的基本幾何形狀。此形象逼真的圖像效果可幫助工程師快速確定小塑料件的特征元素，通常此類塑料件由于其尺寸的原因，通?？赡鼙缓鲆?。
一旦數(shù)據(jù)集與CAD模型找正完成，數(shù)模分析即可開始進行，圖像化(通過顏色漸變)顯示所有的內(nèi)部與外部表面相對于CAD模型的偏差狀態(tài)，甚至可觀察部件內(nèi)部更為深入隱藏之位置，無損分析軟件工具可由任意方向?qū)λ芗M行剖面分析。該剖切工具亦可揭示材料內(nèi)部的氣孔分布。
塑件的掃描及分析可于數(shù)小時內(nèi)完成，通常偏差色譜分析圖有助于產(chǎn)品質(zhì)量的快速分析，但您如真正需要的是一個完整的首件測量報告，即可借助于Calypso測量軟件平臺強大的功能，提供深入剖切可視化工具實現(xiàn)快速離線測量方案編制，舉例來說，諸如此類流體閥門塑料部件。通過強大的幾何量尺寸及形位公差(GDT)數(shù)學(xué)運算引擎，Calypso測量軟件平臺可處理計算所有的尺寸特征并提供多樣化格式的檢測報告。圖3所示為Excel格式的測量報表，而圖4則為箭頭指向被測特征元素的測量值可視化形象報告，測量報告不僅可以顏色顯示測量值是合格亦或超差，同時可顯示此測量值占對應(yīng)公差的百分比。
精度：分辨率與測量精度并非同一概念 — 此尤為重要，例如高的分辨率從來不可補償機械系統(tǒng)的精度，關(guān)鍵在于此系統(tǒng)如用于測量之結(jié)果則必須符合對應(yīng)的國際標準，可要求設(shè)備制造商向您說明他們的X線斷層掃描系統(tǒng)的測量精度如何。 熱像儀相關(guān)文章:熱像儀原理
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