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共聚焦顯微拉曼光譜儀在高聚物領(lǐng)域的應(yīng)用

作者： 時(shí)間：2013-10-08 來(lái)源：網(wǎng)絡(luò) 收藏

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這項(xiàng)技術(shù)最強(qiáng)大的應(yīng)用優(yōu)勢(shì)在于，采用了共聚焦拉曼顯微鏡非破壞性地觀測(cè)樣本內(nèi)部。通過(guò)簡(jiǎn)易地逐層深入聚焦薄膜復(fù)合層，可以輕松檢測(cè)層壓高聚物薄膜。圖4是該方面研究的示意圖。聚合物薄膜從化學(xué)方面加以改良后，共焦拉曼的強(qiáng)大功能可以深入樣品內(nèi)部檢測(cè)其改良特性，位移1605 cm-1處可以看出改良的變化。位移1605 cm-1處的強(qiáng)度橫截面示意圖如圖5所示。薄膜總厚度約為12微米，改良表面的厚度（在這種情況下從二階微分的零交點(diǎn)開(kāi)始），約為1.8微米。共聚焦拉曼在這方面應(yīng)用的優(yōu)勢(shì)在于，可獲得表層的光譜，從而研究改良化學(xué)性能，且估計(jì)出每層的厚度。無(wú)須橫截或者破壞樣本，便順利完成分析。

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共聚焦技術(shù)在應(yīng)用時(shí)并不要求樣本具有明顯的層或范圍。圖6 展示了對(duì)聚乙烯薄膜上的一個(gè)凝膠瑕疵點(diǎn)的構(gòu)成進(jìn)行探測(cè)的結(jié)果，這種瑕疵點(diǎn)有時(shí)被稱為“魚(yú)眼”。與顯示明顯對(duì)比的外部與內(nèi)部構(gòu)成數(shù)據(jù)不同，在這里，數(shù)據(jù)更是顯示了坡度。隨著對(duì)瑕疵更深層的區(qū)域進(jìn)行探測(cè)，2850/2885 cm-1峰值的比率持續(xù)縮小。整個(gè)過(guò)程中，樣本位移共計(jì)45微米。對(duì)凝膠結(jié)構(gòu)有明顯影響的C-H取代作用的分布，通過(guò)比率得以表現(xiàn)。包圍在瑕疵點(diǎn)周圍的普通聚乙烯薄膜，在該光譜系列中體現(xiàn)為一種近似器皿的介質(zhì)。

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結(jié)論

總體而言，拉曼光譜非常適合應(yīng)用于高聚物研究。樣本不限形式，串珠、薄膜，或注塑元件均可，并且觀察探測(cè)過(guò)程不會(huì)進(jìn)行破壞性分析，僅需對(duì)樣本加以非常簡(jiǎn)單的預(yù)備或者完全無(wú)須預(yù)備。拉曼光譜對(duì)高聚物顯微結(jié)構(gòu)、主鏈、潔凈度和構(gòu)造非常敏感。測(cè)量參數(shù)，如共聚物比率，可采用精確的定量方法。隨著共聚焦拉曼顯微鏡越來(lái)越廣泛的應(yīng)用，許多其他有關(guān)瑕疵分析、產(chǎn)品界定和競(jìng)爭(zhēng)力產(chǎn)品研究方面的用途，將會(huì)不斷涌現(xiàn)。(end)
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評(píng)論


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