激光微細(xì)加工中微小曝光區(qū)溫度測(cè)量系統(tǒng)的改進(jìn)
T(R,W)=TmaxN(R,W)
式中,R=r/w是離束斑中心的徑向距離(以光斑半徑作為單位),W=αw,α為吸收系數(shù),Tmax是吸收系數(shù)很大時(shí)(W→∞),基片表面光斑中心的溫度。歸一化溫度場(chǎng)徑向分布函數(shù)為
(3)取α=1/20μm,W=24μm,得W=1.2。據(jù)式(3)做出的N(R)~R關(guān)系曲線如圖3所示。
由圖3可看出,曝光區(qū)內(nèi)的溫度分布是不均勻的,具有較大的溫度梯度。在進(jìn)行激光微細(xì)加工實(shí)驗(yàn)時(shí),需要測(cè)出溫度場(chǎng)的分布。另外,實(shí)驗(yàn)需用最高溫度區(qū)域的溫度來表示加工溫度。因此,需調(diào)節(jié)套筒位置,使得測(cè)量區(qū)域?yàn)樽罡邷囟葏^(qū)域??梢酝ㄟ^移動(dòng)測(cè)溫套筒,逐點(diǎn)記錄溫度值及對(duì)應(yīng)的套筒坐標(biāo)的方法來測(cè)量溫度場(chǎng)的分布和尋找最高溫度區(qū)域。但由于調(diào)節(jié)臺(tái)的坐標(biāo)值和檢流計(jì)的電流示值要用人工方法記錄成表格,測(cè)量一個(gè)點(diǎn)的時(shí)間較長。同時(shí)必須要測(cè)量盡量多的點(diǎn)才能真實(shí)反應(yīng)溫度場(chǎng)的分布。這樣,即使進(jìn)行一維的測(cè)量,也要花費(fèi)很長時(shí)間。重要的是,要這樣一段長的時(shí)間里,由入射激光功率本身的變化,整個(gè)溫度場(chǎng)的溫度都會(huì)做相應(yīng)的變化,這事實(shí)上使得用這種方法測(cè)量溫度場(chǎng)變得無法實(shí)現(xiàn)。而最高溫度點(diǎn)需要在整個(gè)曝光區(qū)尋找,應(yīng)在得到溫度場(chǎng)分后才能準(zhǔn)確獲得。因此,必須另尋方法來測(cè)量溫度場(chǎng)的分布。
圖4 計(jì)算機(jī)溫度測(cè)量系統(tǒng)實(shí)驗(yàn)裝置3.系統(tǒng)的改進(jìn)
針對(duì)系統(tǒng)在實(shí)際使用時(shí)遇到的困難,我們對(duì)原系統(tǒng)進(jìn)行了改進(jìn)。改進(jìn)后測(cè)溫系統(tǒng)的裝置如圖4所示。系統(tǒng)去掉了檢流計(jì),采用高精度電流放大器將探測(cè)器產(chǎn)生的光電流信號(hào)轉(zhuǎn)換為電壓信號(hào),再經(jīng)A/D轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)為數(shù)字信號(hào)輸入計(jì)算機(jī)進(jìn)行計(jì)算、記錄及顯示。通過實(shí)驗(yàn)定標(biāo),可將數(shù)字量直接和溫度對(duì)應(yīng)。這樣,不但解決了測(cè)量范圍與測(cè)量精度之間的矛盾,還使得實(shí)驗(yàn)時(shí)讀數(shù)方便、準(zhǔn)確。溫度分辨率主要決定于所選A/D轉(zhuǎn)換器的位數(shù),并不影響測(cè)量范圍。實(shí)驗(yàn)裝置中,采用集成運(yùn)放OP37組成電流放大器,A/D轉(zhuǎn)換器選用AD1674A。在溫度為600℃時(shí),溫度分辨率達(dá)到0.2℃。
計(jì)算機(jī)控制精密電動(dòng)平臺(tái)帶動(dòng)測(cè)溫套筒移動(dòng)并同時(shí)記錄由探測(cè)器輸出的溫度信號(hào),對(duì)基片上的熱斑作二維掃描得到熱斑的溫度分布,從而利用軟件測(cè)出焦斑中心溫度、熱斑邊界等參數(shù)。同時(shí),利用計(jì)算機(jī)軟件計(jì)算出熱斑最高溫度區(qū)的位置,并使測(cè)溫套筒移動(dòng),對(duì)準(zhǔn)該位置。精密電動(dòng)平臺(tái)的步距為1.25μm,掃描速度達(dá)20mm/s,滿足我們對(duì)溫度分布測(cè)量的要求。
在測(cè)量之前,同樣需對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行定標(biāo)。在得到定標(biāo)數(shù)據(jù)后,利用計(jì)算機(jī)的快速計(jì)算,在對(duì)實(shí)驗(yàn)中的基片進(jìn)行溫度測(cè)量時(shí),將從A/D轉(zhuǎn)換器讀出的數(shù)據(jù)字量用插值計(jì)算的方法直接轉(zhuǎn)換為溫度值顯示在我們?cè)O(shè)計(jì)的虛擬儀器面板上。這很大程度上方便了激光微細(xì)加工實(shí)驗(yàn)中對(duì)溫度的調(diào)節(jié)。
另外,我們利用計(jì)算機(jī)軟件及系統(tǒng)對(duì)溫度信號(hào)的快速記錄功能,實(shí)現(xiàn)了對(duì)基片溫度隨時(shí)間變化過程的測(cè)量、記錄。
4.改進(jìn)后的系統(tǒng)在實(shí)驗(yàn)中的應(yīng)用
我們用上述系統(tǒng)測(cè)量了用功率為10W的連續(xù)波10.6μm聚焦激光束照射預(yù)熱溫度為580K的InP時(shí)產(chǎn)生熱斑的溫度分布,電動(dòng)平臺(tái)移動(dòng)的速度設(shè)置為0.5mm/s,結(jié)果示于圖5。從圖中可以看出,熱斑隨半徑有較大的溫度梯度。熱斑中心溫度隨時(shí)間變化過程如圖6所示。
圖5 熱斑的溫度分布
圖6 熱斑中心溫度隨激光束照射時(shí)間的變化5.結(jié)束語
現(xiàn)有用于半導(dǎo)體的激光微細(xì)加工中微小曝光區(qū)的溫度測(cè)量系統(tǒng)在實(shí)際使用過程中出現(xiàn)了一些需要解決的問題。首先是溫度分辨率和溫度測(cè)量范圍不能同時(shí)滿足使用要求,其次是不能進(jìn)行溫度分布的準(zhǔn)確測(cè)量和最高溫度點(diǎn)的準(zhǔn)確定位。本文提出了一種在原有系統(tǒng)基礎(chǔ)上經(jīng)過改進(jìn)的計(jì)算機(jī)溫度測(cè)量系統(tǒng),該系統(tǒng)通過軟、硬件的結(jié)合,較好的解決了原有系統(tǒng)的這些問題。新的計(jì)算機(jī)溫度測(cè)量系統(tǒng)在半導(dǎo)體的多種激光微細(xì)加工實(shí)驗(yàn)中將發(fā)揮重要作用。
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評(píng)論