元器件的連通性和絕緣電阻測(cè)試

　　在圖 3中，可使用7169A型20通道C型開(kāi)關(guān)卡以相對(duì)較高的電壓（最高500 V）測(cè)量絕緣電阻（對(duì)于最大1300 V的電壓，可使用7153型4×5高電壓小電流矩陣卡）。7169A型開(kāi)關(guān)卡具有位置敏感的繼電器，并只可用于7002型開(kāi)關(guān)主機(jī)中。

　　7169A型開(kāi)關(guān)卡上的兩個(gè)總線可將其配置為開(kāi)關(guān)或復(fù)用。若需測(cè)量插針1和2之間的絕緣電阻，需閉合通道1和22。

　　圖 3，測(cè)試任意兩個(gè)端子之間的絕緣電阻（IR）

　　電阻器（R）限制著通過(guò)繼電器的充電電流。這些電阻器取代了開(kāi)關(guān)卡上出廠安裝的跳線，使電纜電容充電和放電電流達(dá)到最小。典型的R值為100 kΩ。

　　連通性和絕緣電阻組合測(cè)試

　　有些多插針裝置需要測(cè)量通過(guò)每一導(dǎo)線的通路電阻或連通性（低阻），并測(cè)量導(dǎo)線之間的絕緣電阻（高阻）。測(cè)試系統(tǒng)需要切換和測(cè)量低阻（ 1Ω）和非常高的電阻值（> 109Ω）。

　　該測(cè)試系統(tǒng)可被用于各種裝置，例如連接器、開(kāi)關(guān)、多芯電纜和印制板。

　　切換配置

　　圖4所示一套通斷性和IR組合測(cè)量系統(tǒng)，通過(guò)一臺(tái)4線DMM或源表測(cè)試多芯電纜。電阻R1～R20表示導(dǎo)線電阻.為了測(cè)量導(dǎo)線1的電阻R1，需要閉合通道1和21.電阻Ra和Rb表示導(dǎo)線之間的漏阻。可測(cè)量任意兩根或多根導(dǎo)線之間的漏阻。若要測(cè)量漏阻Ra，需要閉合通道1和22。這實(shí)際上是導(dǎo)線1和2之間的漏阻，Ra遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于R1。

　　圖4，通斷性和IR測(cè)試系統(tǒng)

　　單套包含7702型40通道差分放大器的2700型多用表/數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)可測(cè)試最大20根導(dǎo)線。當(dāng)利用DMM測(cè)量漏阻時(shí)，施加的最大電壓通常小于15 V。此外，測(cè)得的最大電阻往往不會(huì)高于100 MΩ。為了測(cè)試規(guī)定測(cè)試電壓下的IR，可以使用的測(cè)試配置如2400型源表和7001型或7002型開(kāi)關(guān)主機(jī)中的7011型1×10多路選通卡。

　　圖5，擴(kuò)展的通斷性/IR測(cè)試系統(tǒng)

　　如果需要更高的測(cè)試電壓或必須測(cè)量更高的漏阻，則可使用圖5所示的電路。在該圖中，采用了兩塊7154型高壓掃描卡來(lái)將2410型源表和2010型數(shù)字多用表切換至8根導(dǎo)線。該系統(tǒng)能夠以高達(dá)1000 V的測(cè)試電壓測(cè)量低達(dá)0.1 mΩ的導(dǎo)線電阻和高達(dá)300 GΩ的漏阻。注意，2410型和2010型未被連接到開(kāi)關(guān)卡輸出，而是連接到插卡的指定通道。插卡的輸出，僅用來(lái)將系統(tǒng)擴(kuò)展為可測(cè)量更多數(shù)量的導(dǎo)線。若要測(cè)量電阻R1的阻值，需閉合通道1、10、11和20。這樣將把2010型連接到R1兩端；若要測(cè)量Ra，也就是R1和R2之間的漏阻，需要閉合通道1、9、12和19。這樣將把2410型連接到漏阻（Ra）兩端。