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采用可升級測試平臺迎接SoC測試的挑戰(zhàn)

作者: 時間:2011-12-02 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

系統(tǒng)級芯片(SoC) 現(xiàn)在是半導(dǎo)體業(yè)界一個很熱門的字眼,可以說是工程突破及新型應(yīng)用的同義詞。由于人們對消費產(chǎn)品的要求日益增長,要求產(chǎn)品功能更多、速度更快、體積更小、性能更好,因而這種用途廣泛的硅片技術(shù)越來越引人注目。SoC可將復(fù)雜的電子系統(tǒng)集成在一個芯片上,使得通訊、計算機和數(shù)字消費市場的高技術(shù)產(chǎn)品制造商對技術(shù)的選擇也愈加廣泛。

毋庸置疑,SoC技術(shù)開發(fā)正駛?cè)敫咚侔l(fā)展的軌道,關(guān)鍵是要以較低的成本提供高性能多功能產(chǎn)品,這就要求產(chǎn)品開發(fā)人員、SoC設(shè)計公司、芯片制造商及合約制造商(SCM)緊密合作,在盡可能短的時間里將通過測試功能完好的產(chǎn)品帶給消費者。

由于技術(shù)進步迅速,同時消費者需求快速多變,再加上產(chǎn)品周期縮短甚至產(chǎn)品面市時間也在縮短,使得SoC開發(fā)面臨著幾方面的挑戰(zhàn)。

在設(shè)計領(lǐng)域,因芯片復(fù)雜程度日益增加及產(chǎn)品面市時間縮短,越來越多的設(shè)計人員傾向于采用標(biāo)準(zhǔn)的IP模塊,代工廠也與設(shè)計公司聯(lián)合起來開發(fā)“已驗證IP”和 “可復(fù)用IP”來加快產(chǎn)品面世時間。避免重復(fù)設(shè)計有助于消除與SoC器件有關(guān)的IP驗證瓶頸,但同時它也預(yù)示要正確選擇與系統(tǒng)兼容的IP模塊。由于很難對嵌入式IP模塊進行測試,因此缺乏系統(tǒng)知識最終會在測試階段導(dǎo)致災(zāi)難性后果,更重要的是,即使每個IP模塊都通過了測試,它也可能會造成整個SoC功能失常。

是一項很復(fù)雜的工作,多功能IP模塊含有邏輯信號、混合信號、存儲器及RF部分,從而給測試人員帶來了更大的困難。從長遠(yuǎn)來看,對不同的IP內(nèi)核進行多次通過式測試太過昂貴,而且也很有可能會損壞芯片。

在生產(chǎn)測試方面,對SCM來說優(yōu)先考慮的是要盡可能經(jīng)濟,并在產(chǎn)能平衡和利用率上具有靈活性。通常他們服務(wù)于不同的客戶,并測試各種數(shù)量不等的SoC。過去采用多平臺方法得到測試靈活性,通過系列專用測試儀分別滿足數(shù)字、模擬和混合信號的測試要求。但是自從有了SoC以后,這種測試方法被證明越來越困難與昂貴,成本和靈活性都要求使用

可以很快設(shè)置以符合所有客戶及其產(chǎn)品不斷變化的需求,測試設(shè)備根據(jù)產(chǎn)品的管腳數(shù)量、速度、分辨率及模擬、高性能數(shù)字和RF性能進行改裝,可滿足各種測試需求。在一個平臺上能完成各項應(yīng)用測試,而且可配置成同時測試幾個不同的器件,或“掃描”/測試一個器件的基本功能,這樣使在設(shè)備上的投資大幅下降。

最主要的是它只需更換不同的測試模塊就可以測試不同的產(chǎn)品,極大地提高了測試的靈活性與均衡性。即使SoC復(fù)雜程度不斷增加,設(shè)計公司也可以采用可測性設(shè)計(DFT)來減少測試的成本,例如可以并行對IP模塊同時進行測試以大幅減少測試時間并節(jié)省費用。

一個有趣的現(xiàn)象是一些有先見之明的自動測試設(shè)備(ATE)制造商們早期就介入到DFT開發(fā)中,有效促進了測試平臺功能與生產(chǎn)工藝的整合,這有助于從設(shè)計到芯片再到測試的平滑過渡,使量產(chǎn)時間更快,測試成本更低。

在高度復(fù)雜的SoC市場,唯有變化是不變的,SCM別無它法,只有不斷尋求提高靈活性降低成本才能生存。他們可以通過采用來迎接挑戰(zhàn),以便在上取得成功。



關(guān)鍵詞: SoC測試 可升級測試平臺

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