iNEMI解決電路板的質量問題

　　推廣邊界掃描技術

　　邊界掃描技術的演變幾乎可追溯到二十年前，其目的是為了解決擁擠復雜的PCB上邏輯節(jié)點的訪問空間（access）不斷減少的問題（圖2）。由于該技術的設計時間長，占用大量寶貴的空間，加之人們認為采用邊界掃描對電路板“性能”的影響即使難以確定，也是不利影響，所以設計者一直抵制使用該技術。

　　電路板技術的演變日益迫使測試工程師在電路板設計中采用邊界掃描。因此，電路板測試TIG啟動一個項目，以期確定元件制造商的接受程度，并制定策略來提高接受程度和鼓勵元件級方案的標準化。由于思科產品和流程的本質決定，很久之前邊界掃描就成為其一個重中之重的問題，所以該公司的Steve Butkovich被選為項目負責人。其他參與者包括原始設備制造商（OEM）和合同制造商等各家公司的代表。

　　Butkovich評論說：“當被問到他們?yōu)槭裁床桓鼰崆榈刂С诌@一技術時，元件供應商稱沒有市場，客戶沒有足夠的需求。我們項目的目的之一就是在行業(yè)論壇中向供應商提出對該技術的需求，而非只是由幾家個別公司提出。通過采用這種方式，我們賦予這種技術更大的意義。”

　　Butkovich表示，器件技術的進步大大減弱設計者早期爭論的有效性。他說：“開始，一些實施邊界掃描技術的元件供應商做得不太好。額外電路可能使器件增加四五千個門，但是當門減少時，邊界掃描占用的空間就失去了意義。自動化工具使設計者的時間縮短為幾天。曾經高達15%的額外成本已降到添加邊界掃描根本不會增加器件成本的程度?！?P>　　Butkovich稱，在行業(yè)論壇中將對邊界掃描的需求擺在供應商的面前，被提到了一個新的高度，強調的是這種能力對于許多產品測試都是必不可少的。廠商不應將包含邊界掃描元件看作是一項競爭優(yōu)勢，而是看作所有產品制造商都應支持的一項基本要求。

　　他繼續(xù)說：“我們都看到，在達到足夠的測試覆蓋率方面，傳統(tǒng)的ICT方法已變得空前困難和不實用。由于我們生產的產品類型（圖3）的原因，許多電路中幾乎沒有包括傳統(tǒng)的訪問空間。檢測沒有提供任何有效的解決辦法。我們需要有效的電氣測試。”