手機(jī)芯片UV膠綁定可靠性分析
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本文主要探討在無鉛工藝下，比較不點(diǎn)膠、UV膠綁定和底部填充對(duì)手機(jī)主板芯片的焊點(diǎn)可靠性的影響（采用滾筒跌落試驗(yàn)作可靠性驗(yàn)證和切片試驗(yàn)等進(jìn)行失效分析），同時(shí)探討手機(jī)芯片邊角UV膠綁定的相關(guān)工藝和可靠性問題。
實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)
對(duì)同一產(chǎn)品的一個(gè)批次隨機(jī)選擇6塊手機(jī)主板，實(shí)施三種工藝流程：2塊不點(diǎn)膠或底部填充，2塊對(duì)主芯片底部填充，2塊對(duì)主芯片的四個(gè)角作UV膠綁定，如表1所示：
驗(yàn)證流程
參照標(biāo)準(zhǔn)GB2423.8，選用滾筒跌落儀進(jìn)行可靠性驗(yàn)證，具體流程如下：1、確保選擇的板子通過AOI、目檢、X-Ray檢查， 并通過所有功能測(cè)試；2、對(duì)選擇的6塊主板：2塊不做點(diǎn)膠；2塊做底部填充；2塊做UV膠邊角綁定，烘干固化后進(jìn)行試驗(yàn)；3、模擬手機(jī)組裝固定方式制作主板的跌落夾具； 4、按照試驗(yàn)經(jīng)驗(yàn)選擇1,000mm高度的滾筒進(jìn)行跌落試驗(yàn); 5、每跌落100次做全功能測(cè)試，直到出現(xiàn)問題為止；6、對(duì)出現(xiàn)不良的主板進(jìn)行失效分析。
試驗(yàn)結(jié)果
實(shí)際滾筒跌落試驗(yàn)結(jié)果如圖2所示。
主板跌落后測(cè)試結(jié)果：6部跌落試驗(yàn)樣機(jī)主板跌落失效信息均為無法開機(jī)。
失效分析
經(jīng)過測(cè)試技術(shù)人員對(duì)失效主板進(jìn)行分析，確認(rèn)為主芯 片或閃存失效導(dǎo)致無法開機(jī)。對(duì)失效位置進(jìn)行切片（見圖3）驗(yàn)證，結(jié)果如下：
A1板切片后，主芯片焊點(diǎn)U17在焊盤和錫球焊接處有開裂現(xiàn)象，如圖4所示。
評(píng)論