手機(jī)芯片UV膠綁定可靠性分析
A2板切片后,主芯片焊點(diǎn)U1在PCB側(cè)焊盤處出現(xiàn)局部開裂現(xiàn)象,如圖5所示。
B1板切片后,主芯片焊點(diǎn)A17在PCB焊盤下方有開裂現(xiàn)象,如圖6所示。
B2板切片后,主芯片焊點(diǎn)U17在PCB焊盤與錫球之間有開裂現(xiàn)象,如圖7所示。
C1板切片后,主芯片焊點(diǎn)U1在PCB焊盤和錫球之間有開裂現(xiàn)象,如圖8所示。
C1板切片后,主芯片焊點(diǎn)U1在PCB焊盤和錫球之間有開裂現(xiàn)象,如圖8所示。
返修工藝對(duì)比
對(duì)底部填充和UV膠綁定工藝手機(jī)主板的返修情況及工藝成本進(jìn)行比較(見表2),UV膠綁定芯片返修容易且沒有報(bào)廢。
評(píng)論