NI和泰克“2004設(shè)計(jì)、驗(yàn)證及測試論壇”圓滿落幕

　　2004年9月美國國家儀器中國有限公司（National Instruments，簡稱NI）和泰克電子中國有限公司（Tektronix）于7、8兩月聯(lián)合在深圳、上海、南京、成都、西安、北京六地相繼舉辦了一系列巡回技術(shù)研討會—— “2004設(shè)計(jì)、驗(yàn)證及測試論壇（Design, Validation, and Test Forum, 簡稱DVTF 2004）”。會議期間雙方公司各施所長，展示了最新的產(chǎn)品和技術(shù)，包括NI LabVIEW圖形化開發(fā)軟件在泰克示波器上的運(yùn)行操作和相關(guān)的演示實(shí)例，吸引了總共近千名專業(yè)人士到場參與。

　　NI和泰克兩家公司都是測試測量行業(yè)的先鋒企業(yè)。NI公司是虛擬儀器技術(shù)的創(chuàng)始人與倡導(dǎo)者，一直在為廣大用戶提供基于工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)計(jì)算機(jī)及互聯(lián)網(wǎng)等商業(yè)科技的虛擬儀器解決方案；而作為全球測試、測量和監(jiān)測領(lǐng)域的領(lǐng)導(dǎo)性企業(yè)，美國泰克電子公司是實(shí)現(xiàn)計(jì)算及通信一體化進(jìn)程的主要廠商之一，尤其在臺式示波器設(shè)備方面具有多年的研發(fā)經(jīng)驗(yàn)和領(lǐng)先優(yōu)勢。現(xiàn)在，通過LabVIEW的高級分析和自動化性能，與泰克示波器的高保真信號采集和高精度測量相結(jié)合，工程人員已能快速地解決設(shè)計(jì)上面臨的挑戰(zhàn)，能更加高效地完成自動化測試任務(wù)。

　　對于行業(yè)用戶來說，參加一場研討會就可以直接接觸2家各有專長的優(yōu)秀企業(yè)，可謂一舉兩得。同時(shí)，NI和泰克的此次聯(lián)手，為各自的用戶群提供了一個(gè)全新概念的解決方案，幫助他們開拓思路，尋找一個(gè)更完善、高效的途徑完成日趨復(fù)雜的測量工作。

　　兩家公司對于在中國范圍內(nèi)的首次市場合作表示滿意。全程負(fù)責(zé)此次活動的NI中國技術(shù)市場經(jīng)理朱君女士表示“通過合作，NI和泰克幫助工程師們向更廣泛的應(yīng)用面擴(kuò)展?，F(xiàn)在，他們無需被動地等待由儀器廠商定義的解決方案，即可自定義開發(fā)他們的測試測量系統(tǒng)來滿足特定的需求。我們希望借由這一系列的巡回研討會，讓工程師們深切體會到一個(gè)開放、可擴(kuò)展的測試平臺的巨大優(yōu)勢?！碧┛藖喬珔^(qū)市場業(yè)務(wù)經(jīng)理鄧錦輝先生說：“當(dāng)今的設(shè)計(jì)工程人員亟需提升他們在測試及設(shè)計(jì)方面的效率，以應(yīng)對設(shè)計(jì)任務(wù)中日益增加的復(fù)雜性和時(shí)間要求。此次泰克和NI的合作正是從他們的這一要求出發(fā)，為廣大電子工程技術(shù)人員給出了一個(gè)高效、開放而且靈活的方案，我們非常愿意繼續(xù)為他們提供類似的具有建設(shè)性的幫助?！?BR>