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Synopsys DFT MAX助珠海炬力節(jié)省90%測(cè)試成本

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作者: 時(shí)間:2007-03-12 來源: 收藏
Synopsys宣布珠海炬力已采用Synopsys  掃描壓縮自動(dòng)化解決方案實(shí)現(xiàn)其0.13微米系統(tǒng)級(jí)芯片(SoC)設(shè)計(jì),使設(shè)備相關(guān)成本降低了90%。 通過片上掃描數(shù)據(jù)壓縮,可顯著減少高質(zhì)量制造所需的時(shí)間和測(cè)試數(shù)據(jù)量。 

  珠海炬力首席技術(shù)官李邵川表示:“作為便攜式多媒體播放器(PMP)SoC的領(lǐng)先供應(yīng)商,我們的產(chǎn)品設(shè)計(jì)廣泛應(yīng)用于遍布世界各地的便攜式消費(fèi)電子產(chǎn)品中。因此,我們的設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)需要易于使用而成熟的壓縮解決方案,可以降低我們下一代PMP SoC的測(cè)試成本。 可與Synopsys Galaxy設(shè)計(jì)平臺(tái)流程實(shí)現(xiàn)緊密集成,使得我們迅速將之應(yīng)用于百萬門級(jí)的設(shè)計(jì)當(dāng)中。只需另加500個(gè)門,DFT MAX便可實(shí)現(xiàn)90%以上的壓縮率。正是基于以上考慮,我們最終決定在未來的SoC設(shè)計(jì)中采用DFT MAX?!?

  標(biāo)準(zhǔn)的 stuck-at 測(cè)試樣本在檢測(cè)許多時(shí)間敏感性缺陷時(shí)不夠有效,因此半導(dǎo)體公司正在采用轉(zhuǎn)移延遲測(cè)試來發(fā)現(xiàn) 0.13 微米及以下工藝的缺陷。隨著設(shè)計(jì)的復(fù)雜程度的增加,利用兩種測(cè)試方法使測(cè)試一個(gè)器件所需的測(cè)試圖形的總量劇增。樣本數(shù)   
量和每個(gè)樣本測(cè)試數(shù)據(jù)量的膨脹,增加了每個(gè)器件所需的測(cè)試時(shí)間,形成了生產(chǎn)測(cè)試瓶頸。DFT MAX可自動(dòng)執(zhí)行片上壓縮,不僅可顯著降低測(cè)試數(shù)據(jù)量和測(cè)試應(yīng)用時(shí)間,同時(shí)也可將對(duì)硅片面積影響降至最低。

  使用DFT MAX無需測(cè)試壓縮技術(shù)領(lǐng)域的專業(yè)技能。其僅適用于門唯一的適應(yīng)性掃描架構(gòu)是現(xiàn)有解決方案中最面積有效的方案。適應(yīng)性掃描架構(gòu)不使用復(fù)雜的順序狀態(tài)機(jī)進(jìn)行壓縮/解壓縮,可以分散整個(gè)設(shè)計(jì)的測(cè)試邏輯,從而緩解布線擁塞并降低硅片面積成本。DFT MAX產(chǎn)品與Synopsys Galaxy Design Platform可以實(shí)現(xiàn)無縫連接,對(duì)可預(yù)測(cè)結(jié)果的時(shí)間影響微乎其微。


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