Synopsys DFT MAX助珠海炬力節(jié)省90％測試成本

Synopsys宣布珠海炬力已采用Synopsys DFT MAX掃描壓縮自動化解決方案實現(xiàn)其0.13微米系統(tǒng)級芯片(SoC)設(shè)計，使測試設(shè)備相關(guān)成本降低了90％。DFT MAX通過片上掃描數(shù)據(jù)壓縮，可顯著減少高質(zhì)量制造測試所需的測試時間和測試數(shù)據(jù)量?！?

　　珠海炬力首席技術(shù)官李邵川表示：“作為便攜式多媒體播放器（PMP）SoC的領(lǐng)先供應(yīng)商，我們的產(chǎn)品設(shè)計廣泛應(yīng)用于遍布世界各地的便攜式消費(fèi)電子產(chǎn)品中。因此，我們的設(shè)計團(tuán)隊需要易于使用而成熟的壓縮解決方案，可以降低我們下一代PMP SoC的測試成本。DFT MAX可與Synopsys Galaxy設(shè)計平臺流程實現(xiàn)緊密集成，使得我們迅速將之應(yīng)用于百萬門級的設(shè)計當(dāng)中。只需另加500個門，DFT MAX便可實現(xiàn)90％以上的壓縮率。正是基于以上考慮，我們最終決定在未來的SoC設(shè)計中采用DFT MAX?！?

　　標(biāo)準(zhǔn)的 stuck-at 測試樣本在檢測許多時間敏感性缺陷時不夠有效，因此半導(dǎo)體公司正在采用轉(zhuǎn)移延遲測試來發(fā)現(xiàn) 0.13 微米及以下工藝的缺陷。隨著設(shè)計的復(fù)雜程度的增加，利用兩種測試方法使測試一個器件所需的測試圖形的總量劇增。樣本數(shù)   
量和每個樣本測試數(shù)據(jù)量的膨脹，增加了每個器件所需的測試時間，形成了生產(chǎn)測試瓶頸。DFT MAX可自動執(zhí)行片上壓縮，不僅可顯著降低測試數(shù)據(jù)量和測試應(yīng)用時間，同時也可將對硅片面積影響降至最低。

　　使用DFT MAX無需測試壓縮技術(shù)領(lǐng)域的專業(yè)技能。其僅適用于門唯一的適應(yīng)性掃描架構(gòu)是現(xiàn)有解決方案中最面積有效的方案。適應(yīng)性掃描架構(gòu)不使用復(fù)雜的順序狀態(tài)機(jī)進(jìn)行壓縮/解壓縮，可以分散整個設(shè)計的測試邏輯，從而緩解布線擁塞并降低硅片面積成本。DFT MAX產(chǎn)品與Synopsys Galaxy Design Platform可以實現(xiàn)無縫連接，對可預(yù)測結(jié)果的時間影響微乎其微。