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吉時利發(fā)布脈沖與脈沖I-V測試解決方案

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作者： 時間：2007-04-11 來源：edw 收藏
美國俄亥俄州克利夫蘭市2007年4月10日訊——新興測量需求解決方案的領(lǐng)導(dǎo)者美國吉時利（Keithley）儀器公司（NYSE代碼：KEI）日前發(fā)布獲獎產(chǎn)品——4200-SCS半導(dǎo)體特征分析系統(tǒng)的最新硬件和軟件升級版本，本次升級引入4200-SCS新一代脈沖測試功能。實驗室系統(tǒng)的應(yīng)用將集成直流和脈沖測量功能與完整的應(yīng)用工具包結(jié)合，為用戶提供完整解決方案。功能增強的脈沖發(fā)生器插卡和新型的示波器插卡，為半導(dǎo)體技術(shù)生產(chǎn)和研究者們提供強大新功能。新升級版本不僅增強了吉時利4200-PIV工具包功能，還提供兩種新版應(yīng)用解決方案，將4200-SCS通用直流與脈沖測量功能進(jìn)一步擴展到新領(lǐng)域，例如Flash存儲器測試、高功率射頻器件測試以及先進(jìn)半導(dǎo)體材料的脈沖測試等。

功能增強的測試硬件

吉時利（Keithley）新型解決方案增強原有的硬件性能， 其采用的新型脈沖發(fā)生器插卡4205-PG2具備多種新功能，例如已申請技術(shù)專利的Segment ARBTM模式，幫助用戶通過簡單線段即能輕松產(chǎn)生復(fù)雜波形。Segment ARB功能能夠產(chǎn)生基本的脈沖調(diào)制技術(shù)所無法產(chǎn)生的復(fù)雜波形。該功能非常適于Flash

存儲器測試，其中需要一些復(fù)雜的碼型用于存儲單元特征分析和壽命測試。4205-PG2還集成一個任意波形發(fā)生器，即ARB模式，且具有一內(nèi)置高耐用型輸出繼電器，壽命幾乎無限長。利用該繼電器可輕易控制和代替Flash測試中的外置繼電器，縮短耐久性測試時間。

此外，新增電源擴展4200-SCS系統(tǒng)所允許的配置方案：一個4200-SCS機架最多實現(xiàn)支持四個獨立脈沖發(fā)生器卡。由于每個4200-PG2具有兩個通道，因此4200-SCS系統(tǒng)每個機架最多可支持8個脈沖通道。同時，集成的4205-PG2為外部觸發(fā)源提供一個觸發(fā)輸入信號，因此每個機架內(nèi)的多個脈沖卡實現(xiàn)在10納秒內(nèi)完成同步。

應(yīng)對前沿技術(shù)挑戰(zhàn)的應(yīng)用解決方案

吉時利（Keithley）本次發(fā)布的應(yīng)用解決方案建立在功能增強的4205-PG2脈沖發(fā)生器卡和新版應(yīng)用軟件基礎(chǔ)之上。4200-PIV-Q工具包針對由III-V族半導(dǎo)體材料和LDMOS工藝制成的射頻器件和高功率FET進(jìn)行脈沖I-V測試和信號分析而特別設(shè)計。4200-PIV-Q工具簡單易用，非常靈活，具有



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