一種數(shù)字IC測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)

摘  要： 給出一種數(shù)字集成電路(IC)測(cè)試系統(tǒng)的軟硬件設(shè)計(jì)方案。該系統(tǒng)基于自定義總線結(jié)構(gòu)，可測(cè)試寬范圍電平。

關(guān)鍵詞： 數(shù)字集成電路測(cè)試；功能測(cè)試

隨著數(shù)字集成電路IC的廣泛應(yīng)用，測(cè)試系統(tǒng)就顯得越來(lái)越重要。在網(wǎng)絡(luò)化IC可靠性試驗(yàn)及測(cè)試系統(tǒng)項(xiàng)目中，需要檢驗(yàn)?zāi)承┚哂袑掚娖椒秶能娪脭?shù)字IC芯片，而市場(chǎng)上常見(jiàn)的中小型測(cè)試系統(tǒng)可測(cè)電平范圍達(dá)不到要求，而大型測(cè)試系統(tǒng)價(jià)格昂貴。本文介紹了為此項(xiàng)目研制的一種數(shù)字IC測(cè)試系統(tǒng)，可測(cè)電平范圍達(dá)