安捷倫光波分析儀可測試波長850nm的組件

安捷倫科技(Agilent)日前所展示旗下最新的光波組件分析儀(LCA)，可測試目標波長為850nm的組件。AgilentN4376BLCA為關鍵光組件優(yōu)化的頻率響應特性描述確立了新基準。這款LCA提供了業(yè)界最佳的多元性、量測速度與可靠度，是專為測試高速電信與計算機網(wǎng)絡的10GbE和光纖信道組件而設計。  

此款LCA藉由降低測試成本及加快開發(fā)速度，克服了當今LAN/SAN的各種挑戰(zhàn)，包括向下延伸到高速芯片間連接(inter-chipconnections)和光背板的部分。 

新款AgilentN4376BLCA具備安捷倫所保證的最低量測不確定性及依循國際標準的測試結(jié)果，能協(xié)助制造、支持與研發(fā)工程師提高生產(chǎn)良率和產(chǎn)能。以多模態(tài)條件來測試目標波長為850nm的多模態(tài)組件，能優(yōu)化短距離組件的設計，這是因為不會在850nm目標波長以外的其它波長外推量測結(jié)果而導致額外的不確定性。  

這款LCA以依據(jù)標準之850nm光電轉(zhuǎn)換器來加強安捷倫產(chǎn)品的陣容，該轉(zhuǎn)換器具備定義完善的多模態(tài)發(fā)射條件(multimodelaunchconditions)與高達20GHz的調(diào)變速率。此單一產(chǎn)品解決方案能分析所有類別的網(wǎng)絡組件(E/O、O/E和O/O)，包括雷射驅(qū)動器、放大器、雷射、發(fā)射器、光調(diào)變器、光電二極管及被動光學組件。  

線性傳輸和反射特性量測系以安捷倫的網(wǎng)絡分析儀來執(zhí)行，它提供完整的S參數(shù)分析及包含探針頭在內(nèi)的校驗?，F(xiàn)有的AgilentN4373ALCA或高效能網(wǎng)絡分析儀皆可透過經(jīng)濟的方式升級，以充分保障您既有的投資。