NI中國(guó)成功舉辦第二屆“設(shè)計(jì)、驗(yàn)證及測(cè)試論壇”

美國(guó)國(guó)家儀器有限公司（National Instruments，簡(jiǎn)稱(chēng)NI）于4月在上海國(guó)際會(huì)議中心成功主辦第二屆“設(shè)計(jì)、驗(yàn)證及測(cè)試論壇” （Design Validation Test Forum，即DVTF 2005），今年的主題為“測(cè)試緊跟設(shè)計(jì)的步伐”。本屆論壇總共吸引了逾500位工程師、技術(shù)人員和院校教師參與此次盛會(huì)，其中97.1%的來(lái)賓表示“此次活動(dòng)對(duì)他們的工作有所幫助”，70%將會(huì)推薦他們的同事參加明年的“設(shè)計(jì)、驗(yàn)證及測(cè)試論壇”。在此次論壇期間，NI提出了若干驅(qū)動(dòng)虛擬儀器技術(shù)發(fā)展的主導(dǎo)商業(yè)技術(shù)，并著重強(qiáng)調(diào)了PCI Express 和FPGA這兩項(xiàng)。

2004年第一屆DVTF由NI和泰克電子（Tektronix）強(qiáng)強(qiáng)聯(lián)手，延承其成功之勢(shì)，除了泰克電子以外，今年NI還邀請(qǐng)了英特爾（Intel）、科梁科技（AEETEK）、Quanser、CyboSoft（博軟科技）、泛華測(cè)控和聚星儀器等行業(yè)內(nèi)外相關(guān)領(lǐng)域的多家優(yōu)秀企業(yè)共同參與。

此次論壇分為熱點(diǎn)技術(shù)專(zhuān)題與實(shí)時(shí)應(yīng)用專(zhuān)題同時(shí)進(jìn)行。NI主持了“利用新興的PAC技術(shù)解決工業(yè)控制面臨的挑戰(zhàn)”、“用LabVIEW開(kāi)發(fā)實(shí)時(shí)系統(tǒng)應(yīng)用”等5場(chǎng)專(zhuān)題研討會(huì)，Intel 以及其他公司也提供了“Embedded Market Solutions - PCI Express Technology”、“采用高速數(shù)字示波器進(jìn)行 PCI Express分析和一致性測(cè)試”等講座。此外，每家參展廠商都有各自的展示區(qū)域，可以與參觀者面對(duì)面地交流。

前來(lái)參加會(huì)議的來(lái)賓們也表示本次論壇“務(wù)實(shí)求新，提供了新思想、新方路、新手段、新工藝”，“與各大廠商直接接觸，了解到測(cè)試及控制領(lǐng)域最新的技術(shù)及發(fā)展趨勢(shì)”。

基于兩屆活動(dòng)的成功經(jīng)驗(yàn)，NI會(huì)在明年繼續(xù)舉辦第三屆“設(shè)計(jì)、驗(yàn)證及測(cè)試論壇”，并有信心將其打造成測(cè)試測(cè)量行業(yè)內(nèi)首屈一指的多供應(yīng)商技術(shù)論壇。