惠瑞捷V93000測(cè)試系統(tǒng)推出消費(fèi)類(lèi)電子產(chǎn)品的混合信號(hào)測(cè)試解決方案

惠瑞捷半導(dǎo)體科技有限公司（Verigy Ltd.）的V93000測(cè)試系統(tǒng)推出消費(fèi)類(lèi)電子產(chǎn)品的混合信號(hào)測(cè)試解決方案，可針對(duì)各種高集成度的消費(fèi)性電子產(chǎn)品組件，進(jìn)行晶圓測(cè)試（Wafer Sort）及終程測(cè)試（Final Test）。半導(dǎo)體設(shè)計(jì)公司及大量生產(chǎn)制造商經(jīng)常不得不在性能要求的廣度和有效又經(jīng)濟(jì)的測(cè)試需求之間努力尋求平衡，尤其是在設(shè)計(jì)和生產(chǎn)對(duì)價(jià)格很敏感的消費(fèi)性電子產(chǎn)品內(nèi)的混合信號(hào)組件時(shí)，常見(jiàn)于ODD（光驅(qū)）、DVD、DTV（數(shù)字電視）及STB（機(jī)頂盒）等應(yīng)用中的。這些組件的集成度越來(lái)越高，甚至內(nèi)建了ePMIC（嵌入式電源管理IC）和嵌入式閃存組件。消費(fèi)性電子產(chǎn)品的混合信號(hào)測(cè)試解決方案可通過(guò)最先進(jìn)的測(cè)試方法，確保最高的準(zhǔn)確度和測(cè)試質(zhì)量，在進(jìn)行高集成度組件的晶圓測(cè)試和終程測(cè)試時(shí)，可提供高速的單點(diǎn)（Single-site）和多點(diǎn)（Multi-site）測(cè)試能力。 

 惠瑞捷半導(dǎo)體科技有限公司業(yè)務(wù)與服務(wù)支持副總裁Pascal Ronde表示：“消費(fèi)者對(duì)具有移動(dòng)性，且全面整合音頻、視頻、數(shù)據(jù)及電話服務(wù)的多用途組件的需求正橫掃整個(gè)消費(fèi)性電子產(chǎn)品市場(chǎng)，影響力更擴(kuò)及半導(dǎo)體市場(chǎng)。在此同時(shí)，整合這些功能的系統(tǒng)級(jí)芯片（SoC）的價(jià)格卻逐年滑落30-40%。這類(lèi)型組件的銷(xiāo)售量激增，價(jià)格卻直直落，在這樣的雙重影響下，制造商別無(wú)選擇，只能以同時(shí)測(cè)試更多組件的能力和比過(guò)去更低的測(cè)試成本來(lái)應(yīng)對(duì)。我們身處這個(gè)產(chǎn)業(yè)的客戶對(duì)這方面的測(cè)試需求越來(lái)越高，驅(qū)使惠瑞捷開(kāi)發(fā)出消費(fèi)性電子產(chǎn)品的混合信號(hào)測(cè)試解決方案?！?

測(cè)試系統(tǒng)需具備更高的準(zhǔn)確度和直流量測(cè)能力，才能滿足數(shù)字信號(hào)的測(cè)試需求，以及同時(shí)測(cè)試高性能的模擬和電源管理IP核心。新的系統(tǒng)級(jí)封裝（SiP）及多芯片封裝（MCP）技術(shù)需要使用確定良好的晶粒（Known Good Die），因此必須在進(jìn)行晶圓篩檢測(cè)試時(shí)，執(zhí)行高性能測(cè)試。納米制程產(chǎn)生了新型態(tài)的故障模式（Failure Mechanism），必須加以排除才能提升良率，這對(duì)于回收晶圓廠動(dòng)輒數(shù)十億美元的投資極為重要。經(jīng)濟(jì)有效的晶圓層級(jí)測(cè)試日趨重要，可以盡早在生產(chǎn)階段的初期，找出故障模式，進(jìn)而提高良率。 

先進(jìn)的硬件具有最佳的擴(kuò)充性

可插入惠瑞捷V93000測(cè)試頭使用的單槽模塊卡每平方公分包含的功能居業(yè)界之冠，有助于縮小測(cè)試系統(tǒng)的體積和降低成本。消費(fèi)性電子產(chǎn)品的混合信號(hào)測(cè)試解決方案包含下列模塊卡： 

• MB AV8（Multi-Band Audio-Video，新一代的模擬式多頻段影音標(biāo)準(zhǔn)）模塊卡 － 不論核心數(shù)或性能等級(jí)皆可擴(kuò)充，相當(dāng)經(jīng)濟(jì)、彈性，在各種不同應(yīng)用中的適用性非常高，包括專業(yè)音響；基頻IQ；寬帶通訊；高畫(huà)質(zhì)及標(biāo)準(zhǔn)畫(huà)質(zhì)的電視、機(jī)頂盒、數(shù)字電視和DVD（BluRay及HD-DVD）等。

• Pin Scale 400 － 測(cè)試管腳可擴(kuò)充，以滿足大部分消費(fèi)性IC和晶圓測(cè)試的需求，以及適用于更多種消費(fèi)類(lèi)IC的接口。入門(mén)版的速度為100 Mbps，可升級(jí)至每測(cè)試通道533+ Mbps和224 M的向量存儲(chǔ)空間。

• DC Scale VI32 － 只需單一片模塊卡，即可彈性地應(yīng)對(duì)多種應(yīng)用（嵌入式閃存組件、嵌入式電源管理IC、提供精確的參考電壓）的需求。量測(cè)通道數(shù)可由16個(gè)擴(kuò)充到32個(gè)，而且每個(gè)通道都具有測(cè)試碼（Pattern）觸發(fā)能力，可提供最快的測(cè)試速度。

• DC Scale DPS32 －每片模塊卡內(nèi)建32個(gè)量測(cè)通道，具有更多組件的測(cè)試能力，涵蓋更多個(gè)電源域（Power Domain），且能進(jìn)行快速的同步觸發(fā)，以提高穩(wěn)定一致性和提供最快的量測(cè)速度。