新聞中心

EEPW首頁 > 元件/連接器 > 學(xué)習(xí)方法與實(shí)踐 > 電子元器件技術(shù)文章:EMI對(duì)策元件和電路保護(hù)元件的發(fā)展與應(yīng)用一

電子元器件技術(shù)文章:EMI對(duì)策元件和電路保護(hù)元件的發(fā)展與應(yīng)用一

——
作者:王彥伶 時(shí)間:2007-10-19 來源:中國SMD資訊網(wǎng) 收藏

摘要:簡要介紹EMI和過電壓、過電流、過熱的一些最新進(jìn)展及其應(yīng)用狀況。

關(guān)鍵詞:;;

1 前言

    隨著電子產(chǎn)品的發(fā)展,特別是在我國加入WTO后與世界經(jīng)濟(jì)接軌的宏觀環(huán)境下,人們對(duì)各類電子產(chǎn)品的電磁兼容性與可靠性、安全性提出了更高的要求。這就極大地促進(jìn)了EMI電子元件與電路保護(hù)電子元件的飛速發(fā)展,成為電子元件領(lǐng)域中的1個(gè)熱點(diǎn),引起人們的極大關(guān)注。這類電子元件品種繁多 [1][2][3],雖然近兩年沒有出現(xiàn)什么特別令人注目的新發(fā)明、新品種,但是這類電子元件型號(hào)規(guī)格的增多、參數(shù)范圍的擴(kuò)大以及抑制能力和保護(hù)電路能力的提升都非常顯著。特別是在這類電子元件的應(yīng)用方面,應(yīng)用范圍的迅速擴(kuò)大與需求量的急劇上升,都是十分驚人的。本文著重介紹其應(yīng)用情況及市場(chǎng)前景。

2 EMI對(duì)策元件的新進(jìn)展[4][5]

2.1 微小型化

    迫于電子產(chǎn)品向更小、更輕、更靈巧的方向發(fā)展,EMI對(duì)策元件繼續(xù)向微小型化發(fā)展,如片式磁珠和片式電容器的主流封裝尺寸已經(jīng)逐步從 1608(0603)過渡到1005(0402);又如日本村田新發(fā)布的3繞組共模扼流圈的尺寸僅為2.5mm



評(píng)論


相關(guān)推薦

技術(shù)專區(qū)

關(guān)閉