用在各種ATE中的集成邊界掃描(06-100)
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靠外部測試通道補充UUT板上測試資源，可以擴展測試覆蓋范圍到外設連接的UUT接口電路。特別是當用外部接入到網(wǎng)上測試點而通過邊界掃描不可接入時，可以改善診斷輸出。
本文引用地址：http://www.butianyuan.cn/article/81439.htm盡管用邊界掃描I/O測試器硬件可以改善測試覆蓋范圍和診斷性能，但此方法會引起新的問題。在開發(fā)邊界掃描測試僅僅考慮UUT的測試資源，那么所有測試覆蓋范圍統(tǒng)計都是僅基于網(wǎng)數(shù)和UUT上的測試點數(shù)。然而增加測試儀資源到邊界掃描裝置，其測試資源本身包含自動調(diào)節(jié)測試覆蓋范圍分析器。
對于測試生成，邊界掃描I/O測試儀資源與UUT網(wǎng)表融合。而所產(chǎn)生的測試程序是基于該整合網(wǎng)表。這導致測試覆蓋分析期間所評估的網(wǎng)和引腳數(shù)的增加。測試覆蓋分析結(jié)果不再表示UUT，而是組合的UUT和測試儀I/O配置。
表1給出這種組合網(wǎng)數(shù)對邊界掃描互連測試實例測試覆蓋范圍統(tǒng)計的影響。當希望分析邊界掃描對專門UUT和增加I/O資源的適應性時，這種偏移的測試覆蓋統(tǒng)計使人費解。
為了測試程序產(chǎn)生使邊界掃描I/O資源與UUT網(wǎng)表融合，所以，所開發(fā)的測試圖形只可以在這種測試儀配置上執(zhí)行。隨著邊界I/O資源數(shù)、命令或類型的變化，測試圖形必須盡快地做相應修正。
增加邊界掃描I/O資源到測試裝置引起的另一個問題是增加掃描鏈長度。需要另外的TCK時鐘來移位通過邊界掃描I/O模塊的測試圖形，這會導致較長的測試執(zhí)行時間，并降低有效的測試吞吐量。然而，這樣的I/O模塊可以連接到一個分離的邊界掃描鏈，這會降低或者消除對測試執(zhí)行時間的影響。
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