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用在各種ATE中的集成邊界掃描(06-100)

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作者: 時(shí)間:2008-04-10 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏
  電壓電平可編程性和可考慮的驅(qū)動(dòng)器強(qiáng)度,結(jié)合過流保護(hù)或其他安全測(cè)量是所希望的。采用HYSCAN I/O資源測(cè)試程序,不需要考慮I/O的物理實(shí)現(xiàn)性。

  對(duì)于測(cè)試圖形,無論通過I/O模塊或內(nèi)電路測(cè)試器的測(cè)試通道提供I/O都沒有關(guān)系?;?a class="contentlabel" href="http://www.butianyuan.cn/news/listbylabel/label/UUT">UUT網(wǎng)表產(chǎn)生測(cè)試程序,而網(wǎng)描述對(duì)測(cè)試儀I/O資源是可接入的。測(cè)試儀配置文件和連線表提供測(cè)試儀I/O到網(wǎng)的實(shí)際分配信息。只有測(cè)試儀配置和連線表需要適配實(shí)際的測(cè)試裝置,而測(cè)試程序本身是不需要適配的。

本文引用地址:http://www.butianyuan.cn/article/81439.htm

  圖4示出采用測(cè)試儀I/O資源的實(shí)例。此實(shí)例包含可獨(dú)立應(yīng)用系統(tǒng)、內(nèi)電路測(cè)試系統(tǒng)和功能測(cè)試系統(tǒng)的3種測(cè)試儀配置。

  只需要一套測(cè)試程序,可以在所有3個(gè)測(cè)試系統(tǒng)中執(zhí)行同樣的測(cè)試,因?yàn)闇y(cè)試程序中I/O圖形尋址是由自測(cè)試儀配置控制的。在該實(shí)例中,可獨(dú)立應(yīng)用的邊界掃描系統(tǒng)包括PXI邊界掃描控制器,帶192通道的PXI數(shù)字I/O模塊、PXI電源通道連接上的外設(shè)接口連接器。測(cè)試程序控制UUT的掃描鏈和I/O模塊的測(cè)試通道。



關(guān)鍵詞: ATE 邊界掃描 UUT

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