新型熱敏電阻特性曲線測定系統(tǒng)(08-100)
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作者：趙麗生 高軍 呂曉萌 盧禹錕 常凱 王書波 謝旻澍 山東大學物理學院
時間：2009-02-27
來源：電子產(chǎn)品世界
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圖7 18b20測溫程序流程圖
圖8 電阻測量程序流程圖
系統(tǒng)測試
測試工具：標準熱敏電阻
測試方法：利用本系統(tǒng)測得標準熱敏電阻材料的熱敏特性曲線。與標準熱敏電阻的標準特性曲線進行比較。實驗表明，在一定溫度范圍內(nèi)，半導體材料的電阻RT和絕對溫度T的關(guān)系可表示為，兩邊取自然對數(shù)、得到：ln RT=b/T+C。若以自變量1/t為橫坐標，ln RT為縱坐標，則上式圖象基本是一直線。得到特性圖示于圖9。
由圖9可看出，特性曲線基本為直線，由于任何熱敏電阻都不可能在大溫度范圍內(nèi)保持線性性，在誤差允許范圍內(nèi)，系統(tǒng)測試成功。
結(jié)語
由于系統(tǒng)架構(gòu)設(shè)計合理，功能電路實現(xiàn)較好，系統(tǒng)性能優(yōu)良、穩(wěn)定，較好地達到了題目要求的各項指標：
·可滿足熱敏電阻特性曲線測試要求;
·可實現(xiàn)自動控制與處理，提高實驗精度;
·安全性能明顯提高。
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