科利登為威盛安裝首套分析實驗室
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科利登可用于65nm技術的完備實驗室解決方案包括了電子發(fā)射顯微系統(tǒng),具有時間精度的發(fā)射技術,激光掃描顯微系統(tǒng)以及電路編輯。它還擁有方便高效的軟件工具,能把所有的失效分析和設計調(diào)試的硬件單元集成起來。該解決方案通過提高整體的產(chǎn)品質量,能為半導體產(chǎn)品的良率提升和可靠性分析提供很高的投資回報率。它能增加首次流片的成功概率,加速產(chǎn)品上市時間,加快關鍵缺陷的失效分析,從而減少產(chǎn)品開發(fā)及掩模板時故障隔離的成本。同時,它也能在芯片設計和生產(chǎn)之間的灰色區(qū)域進行有效的特征分析。用戶可以擺脫只依賴CAD工具在有限的時間內(nèi)進行失效分析的局面。
威盛電子MPE部門的副總裁Shelton Lu說.:“威盛準確把握新技術的市場動向,并將它融入到我們的芯片產(chǎn)品和各種核心邏輯芯片組里面,從而能持續(xù)保持它在業(yè)界領先地位。因為只需與同一個公司合作,所以我們能夠在整個設計和調(diào)試流程中很好地利用科利登的技術和專業(yè)優(yōu)勢。科利登能提供一整套完備的先進實驗室解決方案,涵蓋了那些所必需的先進調(diào)試工具,同時又保護了fabless和foundry之間的那些臨界知識產(chǎn)權??评堑慕鉀Q方案非常適合威盛的商業(yè)模式。 ”
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