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一種新的晶圓級(jí)1/f噪聲測(cè)量方法

作者:黃麗華 時(shí)間:2009-08-31 來(lái)源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  3. 測(cè)量架構(gòu)

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/97638.htm

  a) 噪聲測(cè)量配置

  噪聲測(cè)量配置是由的系列測(cè)量?jī)x器構(gòu)成的,包括半導(dǎo)體特征分析系統(tǒng)KI4200-SCS、可編程低KI428-PROG和,以及的ACS(自動(dòng)特征分析套件)軟件。在構(gòu)建這一配置時(shí),特別注意要最大限度地減少外界電磁噪聲。

  圖1. 新的測(cè)量配置方案原理圖

  測(cè)試配置的原理圖如圖1所示,其中虛線表示ACS控制流,實(shí)線表示數(shù)據(jù)流。

  b) 測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

  安裝了ACS軟件的KI 4200-SCS和KI 4200-SCP2,能夠完成提供輸入電壓,控制電流-電壓的測(cè)量,測(cè)量噪聲信號(hào),控制,和分析測(cè)試結(jié)果等工作。

  我們采用一個(gè)KI 4200 SMU和一個(gè)0.5Hz濾波器提供器件的輸入偏壓。由于能夠消除所有高于0.5Hz的噪聲,因此測(cè)量的精度大大提高了。采用一個(gè)金屬盒將該濾波器屏蔽起來(lái)以避免引入外界電磁干擾,這樣盡可能地使輸入偏壓為一直流偏壓。

  采用一個(gè)探針臺(tái)測(cè)量晶圓級(jí)。探針臺(tái)、DUT(待測(cè)器件)和濾波器都用電磁屏蔽金屬盒屏蔽起來(lái),從而消除和減少了外部噪聲的干擾。



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