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泰克致力于成為智能汽車測試的領(lǐng)跑者，走在行業(yè)發(fā)展趨勢前沿，聚焦智能座艙、自動駕駛和汽車三電領(lǐng)域，持續(xù)投入和專注于智能汽車測試的重要測試點(diǎn)，為客戶提供安全、可靠、高效的智慧出行測試解決方案。

智能汽車現(xiàn)狀與挑戰(zhàn)

智能汽車現(xiàn)狀與挑戰(zhàn)

泰克解決方案中心

自動駕駛
智能座艙
電驅(qū)/車載電源
電池及充電樁
電控

攝像頭
雷達(dá)
域控制器

更高分辨率帶來更高M(jìn)IPI CPHY/DPHY帶寬

MIPI

MIPI 測試中的挑戰(zhàn)與解決方案

MIPI D-PHY物理層一致性測試

MIPI D-PHY一致性解決方案

TekScope?PC進(jìn)行CPHY解碼

泰克MIPI方案白皮書

LVDS

自動測量低壓差分信號

LVDS（GMSL、FPDLINK）介紹與測試

EMI/EMC

3 Series MDO vs Scope FFT

使用 Spectrum Views 進(jìn)行 EMI 測量

毫米波雷達(dá)/激光雷達(dá)性能驗(yàn)證，外部接口一致性測試

毫米波雷達(dá)

泰克 77-79GHz 毫米波雷達(dá)系統(tǒng)

泰克汽車毫米波雷達(dá)測試解決方案

汽車以太網(wǎng)

汽車以太網(wǎng)：查看真實(shí)信號

確保新一代汽車網(wǎng)絡(luò)的性能及合規(guī)性

泰克汽車以太網(wǎng)方案白皮書

EMI/EMC

3 Series MDO vs Scope FFT

使用 Spectrum Views 進(jìn)行 EMI 測量

更高算力對總體通信、內(nèi)存、帶寬及功耗驗(yàn)證要求

汽車以太網(wǎng)

確保新一代汽車網(wǎng)絡(luò)的性能及合規(guī)性

泰克汽車以太網(wǎng)方案白皮書

MIPI

MIPI 測試中的挑戰(zhàn)與解決方案

MIPI D-PHY物理層一致性測試

MIPI D-PHY一致性解決方案

TekScope?PC進(jìn)行CPHY解碼

泰克MIPI方案白皮書

LVDS

自動測量低壓差分信號

LVDS（GMSL、FPDLINK）介紹與測試

PCIe

PCI Express 發(fā)射機(jī)通路間時(shí)延

PCI Express 5.0 發(fā)射機(jī)驗(yàn)證

PCI Express Gen5 多路自動測試

PCIe 要了解的十件事

如何實(shí)現(xiàn) Gen3_Gen4（理論篇）

如何實(shí)現(xiàn) Gen3_Gen4（實(shí)踐篇）

PCIe Gen5 Stressed Eye

智能座艙與自動駕駛域介紹及測試

DDR

迎接 DDR5 內(nèi)存驗(yàn)證和調(diào)試挑戰(zhàn)

高效檢驗(yàn)和調(diào)試 DDR5 內(nèi)存接口

新一代內(nèi)存 DDR5 怎樣改變現(xiàn)狀?

What does DDR5 Enable?

EMI/EMC

3 Series MDO vs Scope FFT

使用 Spectrum Views 進(jìn)行 EMI 測量

Display
消費(fèi)類接口
域控制器

應(yīng)對8k分辨率、更大屏幕測試挑戰(zhàn)

DP/eDP

DisplayPortTM 1.4 over Type-C 一致性測試概述

泰克智能座艙顯示接口DP及HDMI白皮書

MIPI

MIPI D-PHY 物理層一致性測試

MIPI D-PHY 一致性解決方案

TekScope?PC進(jìn)行CPHY解碼

泰克MIPI方案白皮書

先進(jìn)消費(fèi)類接口驗(yàn)證，提升客戶粘性

USB

USB4 發(fā)射機(jī)一致性測試和調(diào)試解決方案

了解最新 USB4 標(biāo)準(zhǔn)測試要求和挑戰(zhàn)

使用示波器調(diào)試 USB 2.0 問題

USB2.0 一致性測試與電路分析調(diào)試系統(tǒng)方案

HDMI2.1

HDMI 發(fā)射機(jī)一致性測試和調(diào)試解決方案

如何實(shí)現(xiàn) HDMI 2.1 源端測試的自動化

如何實(shí)現(xiàn) HDMI 2.1 源端測試

泰克智能座艙顯示接口DP及HDMI白皮書

更高算力對總體通信、內(nèi)存、帶寬及功耗驗(yàn)證要求

汽車以太網(wǎng)

確保新一代汽車網(wǎng)絡(luò)的性能及合規(guī)性

泰克汽車以太網(wǎng)方案白皮書

MIPI

MIPI 測試中的挑戰(zhàn)與解決方案

MIPI D-PHY物理層一致性測試

MIPI D-PHY一致性解決方案

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自動測量低壓差分信號

LVDS（GMSL、FPDLINK）介紹與測試

PCIe

PCI Express 發(fā)射機(jī)通路間時(shí)延

PCI Express 5.0 發(fā)射機(jī)驗(yàn)證

PCI Express Gen5 多路自動測試

PCIe 要了解的十件事

如何實(shí)現(xiàn) Gen3_Gen4（理論篇）

如何實(shí)現(xiàn) Gen3_Gen4（實(shí)踐篇）

PCIe Gen5 Stressed Eye

智能座艙與自動駕駛域介紹及測試

DDR

迎接 DDR5 內(nèi)存驗(yàn)證和調(diào)試挑戰(zhàn)

高效檢驗(yàn)和調(diào)試 DDR5 內(nèi)存接口

新一代內(nèi)存 DDR5 怎樣改變現(xiàn)狀?

What does DDR5 Enable?

EMI/EMC

3 Series MDO vs Scope FFT

使用 Spectrum Views 進(jìn)行 EMI 測量

電機(jī)驅(qū)動測試

有效測量碳化硅(SiC) 功率電子系統(tǒng)中的信號

高效測量碳化硅(SiC)電源系統(tǒng)中的信號

電機(jī)

三相逆變器電機(jī)驅(qū)動器分析

DC-DC

Simplifying DC-DC Converter Characterization using a 2600B System SourceMeter? SMU Instrument and MSO/DPO5000 or DPO7000 Series Scope

Battery

吉時(shí)利如何幫助Tesla提高電池壽命

有效測量碳化硅(SiC)功率電子系統(tǒng)中的信號

泰克 IsoVu 測量系統(tǒng)幫助

松下半導(dǎo)體明顯縮短新型 GaN 器件的開發(fā)時(shí)間

BMS

泰克科技和新能源車的那些事兒

充電樁

泰克科技和新能源車的那些事兒

低速總線

Debugging CAN, LIN, and FlexRay Automotive Buses with an Oscilloscope

專為4、5、6系列MSO設(shè)計(jì)的應(yīng)用軟件套裝

SiC 一頁紙方案

傳感器信號采集

使用示波器調(diào)試 SENT 汽車總線

安全氣囊電器測試

Testing Dual Airbag Inflators and Modules with the Model 2790 SourceMeter? Switch System

智能鑰匙

汽車遙控鑰匙測試

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