(emi) 文章 進入(emi)技術(shù)社區(qū)
怎樣降低MOSFET損耗并提升EMI性能
- 一、引言 MOSFET作為主要的開關(guān)功率器件之一,被大量應(yīng)用于模塊電源。了解MOSFET的損耗組成并對其分析,有利于優(yōu)化MOSFET損耗,提高模塊電源的功率;但是一味的減少MOSFET的損耗及其他方面的損耗,反而會引起更嚴重的EMI問題,導(dǎo)致整個系統(tǒng)不能穩(wěn)定工作。所以需要在減少MOSFET的損耗的同時需要兼顧模塊電源的EMI性能?! 《㈤_關(guān)管MOSFET的功耗分析 MOSFET的損耗主要有以下部分組成:1.通態(tài)損耗;2.導(dǎo)通損耗;3.關(guān)斷損耗;4.驅(qū)動
- 關(guān)鍵字: MOSFET EMI
電容感測:你應(yīng)該選擇哪個架構(gòu)?
- 電容感測在很多應(yīng)用中大展拳腳,從接近度檢測和手勢識別,到液面感測。無論是哪種應(yīng)用,電容感測的決定性因素都是根據(jù)一個特定的基準來感測傳感器電容值變化的能力。根據(jù)特定應(yīng)用和系統(tǒng)要求的不同,你也許需要不同的方法來測量這個變化。在這篇博文章,我將介紹2個特定的架構(gòu)類型—開關(guān)電容器電路和電感器-電容器LC諧振槽路—這是當前一種用于電容感測的電路?! ¢_關(guān)電容器電路 圖1顯示的是針對電容感測的經(jīng)簡化電路,它以電荷轉(zhuǎn)移為基礎(chǔ);電路中的開關(guān)執(zhí)行采樣保持運行。在采樣之間,傳感器電感器上的電荷的變化會導(dǎo)致輸出電壓的變化
- 關(guān)鍵字: 電容 EMI
PowerLab 筆記:如何避免傳導(dǎo) EMI 問題
- 這里,我們先著重討論當寄生電容直接耦合到電源輸入電線時會發(fā)生的情況?! ?.只需幾fF的雜散電容就會導(dǎo)致EMI掃描失敗。從本質(zhì)上講,開關(guān)電源具有提供高 dV/dt 的節(jié)點。寄生電容與高 dV/dt 的混合會產(chǎn)生 EMI 問題。在寄生電容的另一端連接至電源輸入端時,會有少量電流直接泵送至電源線?! ?.查看電源中的寄生電容。我們都記得物理課上講過,兩個導(dǎo)體之間的電容與導(dǎo)體表面積成正比,與二者之間的距離成反比。查看電路中的每個節(jié)點,并特別注意具有高 dV/dt 的節(jié)點。想想電路布局中該節(jié)點的表面積是多少,
- 關(guān)鍵字: EMI
手把手硬件電路詳細設(shè)計過程
- 獻給那些剛開始或即將開始設(shè)計硬件電路的人。時光飛逝,離俺最初畫第一塊電路已有3年。剛剛開始接觸電路板的時候,與你一樣,俺充滿了疑惑同時又帶著些興奮。在網(wǎng)上許多關(guān)于硬件電路的經(jīng)驗、知識讓人目不暇接。像信號完整性,EMI,PS設(shè)計準會把你搞暈。別急,一切要慢慢來。 1)總體思路。設(shè)計硬件電路,大的框架和架構(gòu)要搞清楚,但要做到這一點還真不容易。有些大框架也許自己的老板、老師已經(jīng)想好,自己只是把思路具體實現(xiàn);但也有些要自己設(shè)計框架的,那就要搞清楚要實現(xiàn)什么功能,然后找找有否能實現(xiàn)同樣或相似功能的參考電路
- 關(guān)鍵字: EMI BOM
如何降低MOSFET損耗并提升EMI性能
- 摘要: 本文主要闡述了MOSFET在模塊電源中的應(yīng)用,分析了MOSFET損耗特點,提出了優(yōu)化方法;并且闡述了優(yōu)化方法與EMI之間的關(guān)系。 關(guān)鍵詞:MOSFET 損耗分析 EMI 金升陽R3 一、引言 MOSFET作為主要的開關(guān)功率器件之一,被大量應(yīng)用于模塊電源。了解MOSFET的損耗組成并對其分析,有利于優(yōu)化MOSFET損耗,提高模塊電源的功率;但是一味的減少MOSFET的損耗及其他方面的損耗,反而會引起更嚴重的EMI問題,導(dǎo)致整個系統(tǒng)不能穩(wěn)定工作。所以需要在減少MOSFET的損耗
- 關(guān)鍵字: MOSFET EMI
GaN技術(shù)和潛在的EMI影響
- 1月出席DesignCon 2015時,我有機會聽到一個由Efficient Power Conversion 公司CEO Alex Lidow主講的有趣專題演講,談到以氮化鎵(GaN)技術(shù)進行高功率開關(guān)組件(Switching Device)的研發(fā)。我也有幸遇到“電源完整性 --在電子系統(tǒng)測量、優(yōu)化和故障排除電源相關(guān)參數(shù)(Power Integrity - Measuring, Optimizing, and Troubleshooting Power Related Parameter
- 關(guān)鍵字: GaN EMI
8種經(jīng)典汽車行駛行駛記錄儀方案設(shè)計,軟硬件協(xié)同
- 汽車行駛記錄儀,俗稱汽車黑匣子,是對車輛行駛速度、時間、里程以及有關(guān)車輛行駛的其他狀態(tài)信息進行記錄、存儲并可通過接口實現(xiàn)數(shù)據(jù)輸出的數(shù)字式電子記錄裝置。開車時邊走邊錄像,同時把時間、速度、所在位置都記錄在錄像里,相當“黑匣子”。 基于MCU的無線行駛記錄儀硬軟件設(shè)計 本文在實現(xiàn)無線行駛記錄儀無線通信方案時,選用基于Wi‐Fi通信模塊組成WLAN網(wǎng)絡(luò)實現(xiàn)記錄儀的無線通信。無線行駛記錄記錄儀可用于所有類型車輛,特別適用于企事業(yè)單位,如:擁有大型車隊的物流公司、場站、機場、
- 關(guān)鍵字: SP2338 EMI
如何解決多層PCB設(shè)計時的EMI
- 解決EMI問題的辦法很多,現(xiàn)代的EMI抑制方法包括:利用EMI抑制涂層、選用合適的EMI抑制零配件和EMI仿真設(shè)計等。本文從最基本的PCB布板出發(fā),討論PCB分層堆疊在控制EMI輻射中的作用和設(shè)計技巧。 電源匯流排 在 IC的電源引腳附近合理地安置適當容量的電容,可使IC輸出電壓的跳變來得更快。然而,問題并非到此為止。由于電容呈有限頻率響應(yīng)的特性,這使得電容無法 在全頻帶上生成干凈地驅(qū)動IC輸出所需要的諧波功率。除此之外,電源匯流排上形成的瞬態(tài)電壓在去耦路徑的電感兩端會形成電壓降,這些瞬態(tài)
- 關(guān)鍵字: PCB EMI
電子醫(yī)療設(shè)備EMI問題減少的設(shè)計方法
- 設(shè)備設(shè)計者一直要求獲得具有更小封裝的SMPS。更小的EMI濾波器不僅能夠在電磁發(fā)射到達主線前有效的降低其量級,還能夠減少主線濾波器的體積。模塊 化的SMPS使設(shè)計者在設(shè)計醫(yī)療設(shè)備時具有更大的靈活性。在重新設(shè)計或升級過程中,可以使用更高功率級別模塊化SMPS替換原SMPS,而無需對支持 SMPS和設(shè)備的電氣機械系統(tǒng)進行重新設(shè)計。 使用基底噪聲濾波器降低傳導(dǎo)發(fā)射量級 基底噪聲濾波器與傳導(dǎo)線濾波器的聯(lián)合之下,基底噪聲通過傳導(dǎo)線濾波器被導(dǎo)入地下,在基底噪聲進入建筑設(shè)施接地系統(tǒng)前,它將被有效減少。這
- 關(guān)鍵字: EMI SMPS
汽車電子極近場EMI掃描技術(shù)方案
- 導(dǎo)讀: 汽車廠商往往采用最新的消費電子系統(tǒng)來體現(xiàn)與其他廠商汽車的差異化,該系統(tǒng)必須在各種苛刻的條件下都能正常工作。動力系統(tǒng)、安全系統(tǒng)和其它汽車控制系統(tǒng)也都有同樣的要求,一旦出現(xiàn)故障,這些系統(tǒng)會導(dǎo)致更加嚴重的后果。 汽車廠商往往采用最新的消費電子系統(tǒng)來體現(xiàn)與其他廠商汽車的差異化,該系統(tǒng)必須在各種苛刻的條件下都能正常工作。動力系統(tǒng)、安全系統(tǒng)和其它汽車控制系統(tǒng)也都有同樣的要求,一旦出現(xiàn)故障,這些系統(tǒng)會導(dǎo)致更加嚴重的后果。 汽車電子系統(tǒng)對于供應(yīng)商提供的芯片和印制電路板的電磁輻射特別敏感。因此,SA
- 關(guān)鍵字: EMI EMI
(emi)介紹
您好,目前還沒有人創(chuàng)建詞條(emi)!
歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對(emi)的理解,并與今后在此搜索(emi)的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對(emi)的理解,并與今后在此搜索(emi)的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
關(guān)于我們 -
廣告服務(wù) -
企業(yè)會員服務(wù) -
網(wǎng)站地圖 -
聯(lián)系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案:1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案:1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473