首頁　 資訊　 商機 　 下載　 拆解 　 高校　 招聘 　 雜志　 會展　 EETV　 百科 　 問答　 電路圖　 工程師手冊 　 Datasheet　 100例 　 活動中心　 E周刊閱讀 　 樣片申請
EEPW首頁 >> 主題列表 >> 光學掃描

光學掃描測量精度的影響因素及對策分析

  • 1 引言
    反求工程（或稱逆向工程）是一門發(fā)展迅速的新興技術(shù)。實物反求技術(shù)被用于基于已有產(chǎn)品實物的產(chǎn)品再設計，或?qū)σ恍o法用數(shù)字化手段直接表述和設計、而只能以實物形式表達的產(chǎn)品模型（如油泥模型）進行
  • 關(guān)鍵字： 光學掃描  測量精度  分析    
共1條 1/1 1

光學掃描介紹

您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條光學掃描!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對光學掃描的理解，并與今后在此搜索光學掃描的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

熱門主題

樹莓派    linux   
關(guān)于我們 - 廣告服務 - 企業(yè)會員服務 - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473