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內(nèi)存應(yīng)用發(fā)展的關(guān)鍵指針:容量、速度、可靠度

• 電子裝置系統(tǒng)中，除了邏輯操作數(shù)件與感測(cè)組件（包括各類電源控制與I/O收發(fā)控制）外，內(nèi)存組件也是其中不可或缺的關(guān)鍵零組件。根據(jù)不同的應(yīng)用需求，所需要的記憶體型式類別也會(huì)有所差別，所以內(nèi)存的發(fā)展也是五花八門，各種讀取技術(shù)、材料規(guī)格、揮發(fā)性、非揮發(fā)性，乃至于同質(zhì)、異質(zhì)的嵌入整合或系統(tǒng)封裝都不斷地推陳出新。然而內(nèi)存發(fā)展軌跡也可以說(shuō)只是隨著越來(lái)越龐大的運(yùn)算與感測(cè)功能而亦步亦趨，所以其應(yīng)用發(fā)展的關(guān)鍵指針就會(huì)以容量、速度為重點(diǎn)來(lái)觀察。由于配合系統(tǒng)發(fā)展，當(dāng)容量與速度越來(lái)越大、越來(lái)越快，此時(shí)各種數(shù)據(jù)交錯(cuò)復(fù)雜、訊號(hào)強(qiáng)弱不一，
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