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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 分層測試

基于分層測試的Virtex系列FPGA互聯(lián)資源測試新方法

  • 以基于靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)的現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)為例，在傳統(tǒng)的三次測試方法的基礎(chǔ)上提出了一種新穎的針對FPGA互聯(lián)資源的測試方法。該方法運用了層次化的思想，根據(jù)開關(guān)矩陣中可編程互聯(lián)點(PIP)兩端連線資源的區(qū)別將互聯(lián)資源進(jìn)行層次化分類，使得以這種方式劃分的不同類別的互聯(lián)資源能夠按一定方式進(jìn)行疊加測試，這就從根本上減少了實際需要的測試配置圖形和最小配置次數(shù)。
  • 關(guān)鍵字： 互聯(lián)資源  分層測試  FPGA  
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分層測試介紹

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