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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 制造測(cè)試

低功耗制造測(cè)試的設(shè)計(jì)

  • 關(guān)鍵字：低功耗 制造測(cè)試完全的數(shù)字電路測(cè)試方法通常能將動(dòng)態(tài)功耗提高到遠(yuǎn)超出其規(guī)范定義的范圍。如果功耗足夠大，將導(dǎo)致晶圓檢測(cè)或預(yù)老化(pre-burn-in)封裝測(cè)試失效，而這需要花大量的時(shí)間和精力去調(diào)試。當(dāng)在角落條
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制造測(cè)試介紹

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