半導(dǎo)體器件探測(cè) 文章 進(jìn)入半導(dǎo)體器件探測(cè)技術(shù)社區(qū)

吉時(shí)利發(fā)布用于半導(dǎo)體器件探測(cè)和特征分析設(shè)備的混合信號(hào)互連解決方案

• 　　先進(jìn)電氣測(cè)試儀器與系統(tǒng)的世界級(jí)領(lǐng)導(dǎo)者吉時(shí)利儀器公司，日前發(fā)布測(cè)試界第一個(gè)利用一套線纜即可處理I-V、C-V和脈沖I-V信號(hào)的互連解決方案(正申請(qǐng)專利)。本款最新布線套件基于專利型設(shè)計(jì)，能大大加快并簡(jiǎn)化從任意先進(jìn)半導(dǎo)體參數(shù)分析儀到Cascade Microtech或SUSS MicroTec探測(cè)器進(jìn)行直流電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)和脈沖I-V測(cè)試互連的過程。互連線的設(shè)計(jì)與吉時(shí)利4200-SCS半導(dǎo)體特征分析系統(tǒng)以及其他一些用于特征分析的測(cè)試儀器兼容。 　　該高性能三同軸線纜套件的設(shè)計(jì)非
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