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半導(dǎo)體封裝測(cè)試
半導(dǎo)體封裝測(cè)試 文章 進(jìn)入半導(dǎo)體封裝測(cè)試技術(shù)社區(qū)
北京通州將建國(guó)家集成電路產(chǎn)業(yè)園 對(duì)標(biāo)上海張江
- 北京市正在規(guī)劃在通州區(qū)建設(shè)一個(gè)國(guó)家級(jí)集成電路產(chǎn)業(yè)園區(qū)“國(guó)家集成電路產(chǎn)業(yè)園區(qū)”,這將是國(guó)內(nèi)第一個(gè)以“國(guó)”字頭命名的集成電路產(chǎn)業(yè)園區(qū)。 北京市通州區(qū)經(jīng)濟(jì)和信息化委員會(huì)5月9日官網(wǎng)上發(fā)布了兩條相關(guān)消息顯示:該園區(qū)將建于通州區(qū)馬駒橋鎮(zhèn)及金橋基地。 通州經(jīng)信委官網(wǎng)發(fā)布的一條消息稱(chēng):5月8日,(北京)市經(jīng)信委梁勝副主任等相關(guān)領(lǐng)導(dǎo)實(shí)地考察了我(元器件交易網(wǎng)注:指通州)區(qū)集成電路產(chǎn)業(yè)群基地建設(shè)準(zhǔn)備情況。在肯定了金橋基地所做工作成績(jī)的同時(shí)指出了今后工作的重點(diǎn)和
- 關(guān)鍵字: 集成電路 半導(dǎo)體封裝測(cè)試
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半導(dǎo)體封裝測(cè)試介紹
半導(dǎo)體封裝測(cè)試定義:
半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造、晶圓測(cè)試、芯片封裝和封裝后測(cè)試組成。半導(dǎo)體封裝測(cè)試是指將通過(guò)測(cè)試的晶圓按照產(chǎn)品型號(hào)及功能需求加工得到獨(dú)立芯片的過(guò)程。封裝過(guò)程為:來(lái)自晶圓前道工藝的晶圓通過(guò)劃片工藝后,被切割為小的晶片(Die),然后將切割好的晶片用膠水貼裝到相應(yīng)的基板(引線(xiàn)框架)架的小島上,再利用超細(xì)的金屬(金、錫、銅、鋁)導(dǎo)線(xiàn)或者導(dǎo)電性樹(shù)脂將晶片的接合焊盤(pán)(Bond P [ 查看詳細(xì) ]
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