首頁(yè)  資訊  商機(jī)   下載  拆解   高校  招聘   雜志  會(huì)展  EETV  百科   問答  電路圖  工程師手冊(cè)   Datasheet  100例   活動(dòng)中心  E周刊閱讀   樣片申請(qǐng)
EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 單器件led測(cè)試系

單器件的LED測(cè)試系統(tǒng)

  • 元器件操控器將單個(gè)HBLED(或者一組HBLED)運(yùn)送到一個(gè)測(cè)試夾具上,夾具可以屏蔽環(huán)境光,且內(nèi)帶一個(gè)用于光測(cè)量的光電探測(cè)器(PD)[1]。需要...
  • 關(guān)鍵字: 單器件LED測(cè)試系  
共1條 1/1 1

單器件led測(cè)試系介紹

您好,目前還沒有人創(chuàng)建詞條單器件led測(cè)試系!
歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對(duì)單器件led測(cè)試系的理解,并與今后在此搜索單器件led測(cè)試系的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

熱門主題

樹莓派    linux   
關(guān)于我們 - 廣告服務(wù) - 企業(yè)會(huì)員服務(wù) - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國(guó)際技術(shù)信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案:1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473