首頁  資訊  商機(jī)   下載  拆解   高校  招聘   雜志  會展  EETV  百科   問答  電路圖  工程師手冊   Datasheet  100例   活動中心  E周刊閱讀   樣片申請
EEPW首頁 >> 主題列表 >> 均勻損耗

NAND Flash上均勻損耗與掉電恢復(fù)在線測試

  •   摘要 NAND Flash以其大容量、低價格等優(yōu)勢迅速成為嵌入式系統(tǒng)存儲的新寵,因此其上的文件系統(tǒng)研究也日益廣泛,本文簡要介紹了常用的NAND Flash文件系統(tǒng)YAFFS,并針對YAFFS在均勻損耗和掉電恢復(fù)方面進(jìn)行在線測試。在給出測試結(jié)果的同時,著重研究嵌入式軟件測試方案和方法;對測試結(jié)果進(jìn)行分析,并提出改進(jìn)方案和適用環(huán)境。   關(guān)鍵詞 NAND Flash 均勻損耗 軟件測試 YAFFS   引 言   隨著嵌入式技術(shù)在各種電子產(chǎn)品中的廣泛應(yīng)用,嵌入式系統(tǒng)中的數(shù)據(jù)存儲和管理已經(jīng)成為一個重要
  • 關(guān)鍵字: NAND Flash 均勻損耗 軟件測試 YAFFS  
共1條 1/1 1

均勻損耗介紹

您好,目前還沒有人創(chuàng)建詞條均勻損耗!
歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對均勻損耗的理解,并與今后在此搜索均勻損耗的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

熱門主題

樹莓派    linux   
關(guān)于我們 - 廣告服務(wù) - 企業(yè)會員服務(wù) - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案:1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473