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威盛電子對(duì)高速串行數(shù)據(jù)進(jìn)性測試

  • 俄勒岡州比佛頓，2005年9月29日——世界領(lǐng)先的測試，測量和監(jiān)測儀器供應(yīng)商泰克公 司（NYSE：TEK），今天宣布芯片技術(shù)和平臺(tái)解決方案的領(lǐng)先開發(fā)商威盛電子份有限 公司已經(jīng)選擇泰克的數(shù)字系統(tǒng)分析工具來開發(fā)其基于串行數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)（例如第二代 PCI-Express接口和SATA  III）的數(shù)字產(chǎn)品。完整的泰克解決方案由TLA7000邏輯分析 儀 和超高性能TDS6000示波器組成，這一方案將使威盛的工程師們更圓滿完成設(shè)計(jì)和驗(yàn)證 任務(wù)，進(jìn)行全面的協(xié)同操作性測試工作，并同時(shí)對(duì)基于PCI-Express
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威盛電子股份有限公司介紹

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