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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 存儲(chǔ)測(cè)試技術(shù)

STM32的瞬態(tài)運(yùn)動(dòng)參數(shù)存儲(chǔ)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

  • 摘要:在瞬態(tài)運(yùn)動(dòng)參數(shù)測(cè)試中,對(duì)存儲(chǔ)測(cè)試系統(tǒng)的實(shí)時(shí)性和功耗提出了更高的要求。提出了一種基于STM32的嵌入式存儲(chǔ)測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)方案,介紹了該系統(tǒng)關(guān)鍵部分的軟硬件設(shè)計(jì),主要包括模擬信號(hào)調(diào)理、數(shù)據(jù)采集存儲(chǔ)和USB數(shù)據(jù)回讀。該系統(tǒng)具有實(shí)時(shí)性好、體積小、功耗低的特點(diǎn),適合于惡劣環(huán)境下加速度信號(hào)的采集存儲(chǔ)。試驗(yàn)結(jié)果表明,該系統(tǒng)工作穩(wěn)定,實(shí)現(xiàn)了設(shè)計(jì)目標(biāo)。
  • 關(guān)鍵字: 存儲(chǔ)測(cè)試技術(shù)  信號(hào)調(diào)理  STM32  USB  LabView  

采用MSP430系列單片機(jī)設(shè)計(jì)測(cè)試系統(tǒng)

共2條 1/1 1

存儲(chǔ)測(cè)試技術(shù)介紹

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