容錯測試 文章 進入容錯測試技術社區(qū)
高速PCI信號采集卡設計與實現(xiàn)綜合實例之:產(chǎn)品穩(wěn)定性和可靠性測試
- 完成一個產(chǎn)品的設計后和初步調(diào)試后,就可以對產(chǎn)品進行完整的測試流程。一般來說,對產(chǎn)品需要進行下面一些測試,通過測試后才能對產(chǎn)品的穩(wěn)定性和可靠性得出一個結論。
- 關鍵字: 高速PCI信號采集卡 容錯測試 容限測試 FPGA
共1條 1/1 1 |
容錯測試介紹
您好,目前還沒有人創(chuàng)建詞條容錯測試!
歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對容錯測試的理解,并與今后在此搜索容錯測試的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對容錯測試的理解,并與今后在此搜索容錯測試的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
關于我們 -
廣告服務 -
企業(yè)會員服務 -
網(wǎng)站地圖 -
聯(lián)系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案:1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案:1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473